IEC 61000-4-12:1995

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-12
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-04
Edition 1:1995 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1995 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-12:
Techniques d'essai et de mesure –
Essai d'immunité aux ondes oscillatoires
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-12:
Testing and measurement techniques –
Oscillatory waves immunity test

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-12:1995+A1:2000

Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and

base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par
(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.
courrier électronique. Veuillez prendre contact
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avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus
below) for further information.
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• Service clients
• Customer Service Centre
Si vous avez des questions au sujet de cette
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supplémentaires, prenez contact avec le Service
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Email: custserv@iec.ch
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Tél: +41 22 919 02 11
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Fax: +41 22 919 03 00
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INTERNATIONALE IEC
61000-4-12
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-04
Edition 1:1995 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1995 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-12:
Techniques d'essai et de mesure –
Essai d'immunité aux ondes oscillatoires
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-12:
Testing and measurement techniques –
Oscillatory waves immunity test

 IEC 2001 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, any form or by any means, electronic or mechanical,
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les including photocopying and microfilm, without permission in
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Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http://www.iec.ch
CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
W
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61000-4-12 © CEI:1995+A1:2000

SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 6

INTRODUCTION .8

Articles
1 Domaine d'application. 10

2 Références normatives . 12

3 Généralités .12
4 Définitions. 12
5 Niveaux d'essai. 14
6 Matériel d'essai. 16
6.1 Générateurs d'essai. 16
6.2 Vérification des caractéristiques des générateurs d'essai . 20
6.3 Réseau de couplage/découplage . 20
7 Installation d'essai . 22
7.1 Connexions de mise à la terre. 22
7.2 Matériel en essai . 24
7.3 Réseau de couplage/découplage . 26
7.4 Générateurs d'essai. 26
8 Procédure d'essai . 28
8.1 Conditions de référence du laboratoire . 28
8.2 Exécution de l'essai . 28
9 Evaluation des résultats d’essai . 36
10 Rapport d’essai. 36
Annexe A (informative) Informations sur les phénomènes, choix de l'essai. 62
Annexe B (informative) Choix des niveaux d'essai. 68
Annexe C (informative) Impédance des générateurs d'essai. 72
Annexe D (informative) Bibliographie . 76
Figure 1 – Forme d'onde de l'onde sinusoïdale amortie (tension en circuit ouvert
et courant de court-circuit) . 38

Figure 2 – Exemple de schéma du circuit du générateur d'essai pour onde
sinusoïdale amortie . 38
Figure 3 – Forme d'onde de l'onde oscillatoire amortie . 40
Figure 4 – Exemple de schéma du circuit du générateur d'essai pour onde oscillatoire
amortie. 40
Figure 5 – Exemple d'installation d'essai pour matériel de table utilisant le plan de référence. 42
Figure 6 – Exemple d'installation d'essai pour matériel posé sur le sol utilisant le plan
de référence. 42
Figure 7 – Essai en mode commun des accès d'alimentation continue ou
alternative monophasée . 44
Figure 8 – Essai en mode commun des accès d'alimentation alternative triphasée . 46

61000-4-12 © IEC:1995+A1:2000 – 3 –

CONTENTS
Page
FOREWORD . 7

INTRODUCTION .9

Clause
1 Scope . 11

2 Normative references. 13

3 General. 13
4 Definitions. 13
5 Test levels . 15
6 Test equipment . 17
6.1 Test generators . 17
6.2 Verification of the characteristics of the test generators . 21
6.3 Coupling/decoupling network . 21
7 Test set-up .23
7.1 Earthing connections . 23
7.2 Equipment under test. 25
7.3 Coupling/decoupling network . 27
7.4 Test generators . 27
8 Test procedure. 29
8.1 Laboratory reference conditions. 29
8.2 Execution of the test . 29
9 Evaluation of test results. 37
10 Test report . 37
Annex A (informative) Information on the phenomena, selection of the test . 63
Annex B (informative) Selection of the test levels . 69
Annex C (informative) Impedance of the test generators . 73
Annex D (informative) Bibliography . 77
Figure 1 – Waveform of the ring wave (open-circuit voltage and short-circuit current). 39
Figure 2 – Example of schematic circuit of the test generator for ring wave. 39

Figure 3 – Waveform of the damped oscillatory wave . 41
Figure 4 – Example of schematic circuit of the test generator for damped
oscillatory wave. 41
Figure 5 – Example of test set-up for table-top equipment using the ground
reference plane . 43
Figure 6 – Example of test set-up for floor-standing equipment using the
ground reference plane . 43
Figure 7 – A.C./D.C. power supply port, single phase, line-to-ground test . 45
Figure 8 – A.C. power supply port, three phase, line-
...