IEC 62153-4-7:2006

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
62153-4-7
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-04
Méthodes d'essai des câbles métalliques
de communication –
Partie 4-7:
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Méthode d'essai pour mesurer l'impédance
de transfert et l'affaiblissement d'écran –
ou l'affaiblissement de couplage –
Méthode des tubes concentriques
Metallic communication cables test methods –
Part 4-7:
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Test method for measuring the transfer
impedance and the screening – or the coupling
attenuation – Tube in tube method
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 62153-4-7:2006
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respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
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.
NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
62153-4-7
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-04
Méthodes d'essai des câbles métalliques
de communication –
Partie 4-7:
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Méthode d'essai pour mesurer l'impédance
de transfert et l'affaiblissement d'écran –
ou l'affaiblissement de couplage –
Méthode des tubes concentriques
Metallic communication cables test methods –
Part 4-7:
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Test method for measuring the transfer
impedance and the screening – or the coupling
attenuation – Tube in tube method
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– 2 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .6
INTRODUCTION.10
1 Domaine d’application.12
2 Références normatives .12
3 Termes et définitions .12
4 Principe de la méthode d’essai.16
5 Support théorique .20
6 Procédure.20
6.1 Équipement .20
6.2 Connexion entre le tube d’extension et le dispositif en essai.20
6.3 Plage dynamique ou bruit de fond .22
6.4 Impédance du système interne .22
6.5 Préparation d’échantillon .28
7 Mesure .30
7.1 Impédance de transfert.30
7.2 Affaiblissement de blindage .32
7.3 Affaiblissement de couplage .32
8 Expression des résultats.34
8.1 Impédance de transfert et impédance de transfert efficace.34
8.2 Affaiblissement d’écran.34
8.3 Affaiblissement de couplage .36
8.4 Exigences.38
Annexe A (informative) Mesures de l’efficacité du blindage des connecteurs et des
ensembles de câbles.40
Annexe B (informative) Influence des résistances de contact.62
Bibliographie .66
Figure 1 – Définition de Z .14
T
Figure 2 – Principe de montage d’essai pour mesurer les impédances de transfert et
l’affaiblissement d’écran ou de couplage de connecteurs .18
Figure 3 – Principe de montage d’essai pour mesurer les impédances de transfert et
l’affaiblissement d’écran d’ensembles de câbles courts .18
Figure 4 – Principe de montage pour l’essai de vérification .22
Figure 5 – Adaptation d’impédance pour Z <50 Ω.26
Figure 6 – Adaptation d’impédance pour Z >50 Ω.26
Figure 7a – Principe de préparation de connecteurs symétriques ou multiconducteurs
pour l’impédance de transfert et l’affaiblissement d’écran .28
Figure 7b – Principe de préparation de connecteurs symétriques ou multiconducteurs
pour l’affaiblissement de couplage.30
Figure 7 – Préparation de connecteurs symétriques ou multiconducteurs.30

62153-4-7 © IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
INTRODUCTION.11
1 Scope.13
2 Normative references .13
3 Terms and definitions .13
4 Principle of the test method .17
5 Theoretical background .21
6 Procedure .21
6.1 Equipment.21
6.2 Connection between extension tube device under test.21
6.3 Dynamic range respectively noise floor .23
6.4 Impedance of the inner system.23
6.5 Sample preparation .29
7 Measurement .31
7.1 Transfer impedance.31
7.2 Screening attenuation .33
7.3 Coupling attenuation .33
8 Expression of results .35
8.1 Transfer impedance and effective transfer impedance .35
8.2 Screening attenuation .35
8.3 Coupling attenuation .37
8.4 Requirement.39
Annex A (informative) Measurements of the screening effectiveness of connectors and
cable assemblies .41
Annex B (informative) Influence of contact resistances .63
Bibliography.67
Figure 1 – Definition of Z .15
T
Figure 2 – Principle of the test set-up to measure transfer impedances and screening
or coupling attenuation of connectors .19
Figure 3 – Principle of the test set-up to measure transfer impedances and screening
attenuation of short cable assemblies .19
Figure 4 – Principle set-up for verification test .23
Figure 5 – Impedance matching for Z <50 Ω.27
Figure 6 – Impedance matching for Z >50 Ω.27
Figure 7a – Principle preparation of balanced or multiconductor connectors for transfer
impedance and screening attenuation.29
Figure 7b – Principle preparation of balanced or multiconductor connectors for
coupling attenuation.31
Figure 7 – Preparation of balanced or multiconductor connectors .31

– 4 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
Figure 8 – Mesure de l’impédance de transfert avec des tubes concentriques.30
Figure 9 – Mesure de l’affaiblissement d’écran avec des tubes concentriques.32
Figure 10 – Mesure de l’affaiblissement de couplage avec des tubes concentriques .34
Figure 11 – Mesure typique d’un connecteur de 0,04 m de long avec un tube
d’extension de 1 m .38
Figure A.1 – Circuit équivalent des lignes de transmission couplées .42
Figure A.2 – Fonction somme S.44
Figure A.3 – Fonction de transfert de couplage calculée
(l = 1 m; e = 2,3; e = 1; Z = 0) .46
r1 r2 F
Figure A.4 – Montage triaxial pour la mesure de l’affaiblissement d’écran a et
S
l’impédance de transfert Z .50
T
Figure A.5 í simulation d’un ensemble de câbles (échelle logarithmique).52
Figure A.6 í simulation d’un ensemble de câbles (échelle linéaire) .52
Figure A.7 – Montage triaxial avec tube d’extension pour les ensembles de câbles courts.54
Figure A.8 – Montage triaxial avec tube d’extension pour les connecteurs.56
Figure A.9 – Simulation, échelle logarithmique .58
Figure A.10 – Mesure, échelle logarithmique .58
Figure A.11 – Simulation, échelle linéaire .58
Figure A.12 – Mesure, échelle linéaire .58
Figure A.13 – Simulation, échelle logarithmique .58
Figure A.14 – Simulation, échelle linéaire .58
Figure B.1 – Résistances de contact du montage d’essai.62
Figure B.2 – Circuit équivalent du montage d’essai.64

62153-4-7 © IEC:2006 – 5 –
Figure 8 – Measuring the transfer impedance with tube in tube.31
Figure 9 – Measuring the screening attenuation with tube in tube .33
Figure 10 – Measuring the coupling attenuation with tube in tube .35
Figure 11 – Typical measurement of a connector of 0,04 m length with 1 m extension tube .39
Figure A.1 – Equivalent circuit of coupled transmission lines.43
Figure A.2 – Summing function S .45
Figure A.3 – Calculated coupling transfer function (l = 1 m; e = 2,3; e = 1; Z = 0).47
r1 r2 F
Figure A.4 – Triaxial set-up for the measurement of the screening attenuation a and
S
the transfer impedance Z .51
T
Figure A.5 – Simulation of a cable assembly (logarithmic scale) .53
Figure A.6 – Simulation of a cable assembly (linear scale).53
Figure A.7 – Triaxial set-up with extension tube for short cable assemblies .55
Figure A.8 – Triaxial set-up with extension tube for connectors.57
Figure A.9 – Simulation, logarithmic frequency scale .59
Figure A.10 – Measurement, logarithmic frequency scale.59
Figure A.11 – Simulation, linear frequency scale.59
Figure A.12 – Measurement, linear frequency scale .59
Figure A.13 – Simulation, logarithmic frequency scale .59
Figure A.14 – simulation, linear frequency scale .59
Figure B.1 – Contact resistances of the test set-up .63
Figure B.2 – Equivalent circuit of the test set-up .65

– 6 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
MÉTHODES D'ESSAI DES CÂBLES MÉTALLIQUES
DE COMMUNICATION –
Partie 4-7: Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Méthode d’essai pour mesurer l’impédance de transfert et
l’affaiblissement d’écran – ou l’affaiblissement de couplage –
Méthode des tubes concentriques
AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études,
aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux
travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 62153-4-7 a été établie par le sous-comité 46A: Câbles coaxiaux,
du comité d’études 46 de la CEI: Câbles, fils, guides d'ondes, connecteurs, composants
passifs pour micro-onde et accessoires.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
46A/797/FDIS 46A/814/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l’approbation de la présente norme.

62153-4-7 © IEC:2006 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
METALLIC COMMUNICATION CABLE TEST METHODS –
Part 4-7: Electromagnetic compatibility (EMC) –
Test method for measuring the transfer impedance
and the screening – or the coupling attenuation –
Tube in tube method
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 62153-4-7 has been prepared by subcommittee 46A: Coaxial
cables, of IEC technical committee 46: Cables, wires, waveguides, r.f. connectors, r.f. and
microwave passive components and accessories.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
46A/797/FDIS 46A/414/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.

– 8 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
La CEI 62153 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général Méthodes
d'essai des câbles métalliques de communication:
Partie 1-1: Electrique í Mesure de la perte par réflexions à une impulsion/échelon dans le
domaine fréquentiel en utilisant la Transformée Inverse de Fourier Discrète (TIFD)
Partie 1-2: Reflection measurement correction
Partie 4-0: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Relationship between Surface transfer
impedance and Screening attenuation, recommended limits
Partie 4-1: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Introduction to electromagnetic (EMC)
screening measurements
Partie 4-2: Compatibilité électromagnétique (CEM) í Affaiblissement d'écran et de couplage í
Méthode de la pince à injection
Partie 4-3: Compatibilité électromagnétique (CEM) – Impédance surfacique de transfert –
Méthode triaxiale
Partie 4-4: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Shielded screening attenuation, test
method for measuring of the screening attenuation "as " up to and above 3 GHz
Partie 4-5: Compatibilité électromagnétique (CEM) – Affaiblissement d’écran ou de couplage –
Méthode de la pince absorbante
Partie 4-6: Compatibilité électromagnétique (CEM) – Impédance de transfert de surface –
Méthode d'injection de ligne
Partie 4-7: Compatibilité électromagnétique (CEM) í Méthode d’essai pour mesurer
l’impédance de transfert et l’affaiblissement d’écran – ou l’affaiblissement de
couplage – Méthode des tubes concentriques
Partie 4-8: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Capacitive Coupling Admittance
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous «http://webstore.iec.ch» dans les données
relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
___________
A l’étude.
62153-4-7 © IEC:2006 – 9 –
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
IEC 62153 consists of the following parts, under the general title Metallic communication
cable test methods:
Part 1-1: Electrical í Measurement of the pulse/step return loss in the frequency domain
using the Inverse Discrete Fourier Transformation (IDFT)
Part 1-2: Reflection measurement correction
Part 4-0: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Relationship between Surface transfer
impedance and Screening attenuation, recommended limits
Part 4-1: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Introduction to electromagnetic (EMC)
screening measurements
Part 4-2: Electromagnetic compatibility (EMC) í Screening and coupling attenuation í
Injection clamp method
Part 4-3: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Surface transfer impedance í Triaxial
method
Part 4-4: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Shielded screening attenuation, test
method for measuring of the screening attenuation "as " up to and above 3 GHz
Part 4-5: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Coupling or screening attenuation í
absorbing clamp method
Part 4-6: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Surface transfer impedance í line
injection method
Part 4-7: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Part 4-7: Electromagnetic compatibility
(EMC) – Test method for measuring the transfer impedance and the screening –
or the coupling attenuation –Tube in tube method
Part 4-8: Electromagnetic Compatibility (EMC) í Capacitive Coupling Admittance
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
—————————
Under consideration.
– 10 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
INTRODUCTION
Le montage d’essai d’affaiblissement d’écran blindé selon la CEI 62153-4-4 (méthode triaxiale)
a été étendu pour prendre en compte les particularités des petits éléments électriques comme
les connecteurs et les ensembles de câbles. En raison du tube concentrique extérieur du
montage triaxial, les mesures sont indépendantes des irrégularités de la circonférence et des
champs électromagnétiques externes.
En utilisant un tube résonnant supplémentaire (le tube interne des tubes concentriques), on
crée un système dans lequel l’efficacité du blindage d’un dispositif électriquement court est
mesurée dans des conditions proches de la réalité et contrôlées. En outre, une fréquence de
coupure inférieure pour la transition entre électriquement court (impédance de transfert Z ) et
T
électriquement long (affaiblissement d’écran a ) peut être obtenue.
s
Une large gamme de fréquences et dynamique peut être appliquée pour contrôler des
ensembles de câbles et de connecteurs même fortement blindés avec des instruments
normaux depuis les basses fréquences jusqu’à la limite des ondes transversales définies dans
le circuit externe à environ 4 GHz.

62153-4-7 © IEC:2006 – 11 –
INTRODUCTION
The shielded screening attenuation test set-up according to IEC 62153-4-4 (triaxial method)
has been extended to take into account the particularities of electrical short elements like
connectors and cable assemblies. Due to the concentric outer tube of the triaxial set-up,
measurements are independent of irregularities on the circumference and outer
electromagnetic fields.
With the use of an additional resonator tube (inner tube respectively tube in tube) a system is
created where the screening effectiveness of an electrically short device is measured in
realistic and controlled conditions. Also a lower cut off frequency for the transition between
electrically short (transfer impedance Z ) and electrically long (screening attenuation a ) can
T s
be achieved.
A wide dynamic and frequency range can be applied to test even super screened connectors
and assemblies with normal instrumentation from low frequencies up to the limit of defined
transversal waves in the outer circuit at approximately 4 GHz.

– 12 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
MÉTHODES D'ESSAI DES CÂBLES MÉTALLIQUES
DE COMMUNICATION –
Partie 4-7: Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Méthode d’essai pour mesurer l’impédance de transfert et
l’affaiblissement d’écran – ou l’affaiblissement de couplage –
Méthode des tubes concentriques
1 Domaine d’application
Cette méthode triaxiale convient pour déterminer l’impédance surfacique de transfert et/ou
l’affaiblissement d’écran et l’affaiblissement de couplage de connecteurs blindés adaptés (y
compris la connexion entre un câble et un connecteur) et d’ensembles de câbles. Cette
méthode peut également être étendue pour déterminer l’impédance de transfert, l’affaiblis-
sement d’écran ou de couplage de connecteurs symétriques ou à plusieurs broches et
d’ensembles de câbles.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références non
datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 61196-1:2005, Câbles coaxiaux de communication – Partie 1: Spécification générique –
Généralités, définitions et exigences
CEI 62153-4-4, Metallic communication cable test methods – Part 4-4: Electromagnetic
compatibility (EMC) – Shielded screening attenuation, test method for measuring of the
screening attenuation a up to and above 3 GHz
s
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions suivants s’appliquent.
3.1
impédance surfacique de transfert
Z
T
pour un écran électriquement court, quotient de la tension longitudinale U induite dans le
circuit interne par le courant I délivré au circuit externe ou vice versa [Ω] (voir Figure 1)
L’impédance Z d’un écran électriquement court est exprimée en ohms [Ω] ou en décibels par
T
rapport à 1 Ω.
___________
A publier
62153-4-7 © IEC:2006 – 13 –
METALLIC COMMUNICATION CABLE TEST METHODS –
Part 4-7: Electromagnetic compatibility (EMC) –
Test method for measuring the transfer impedance
and the screening – or the coupling attenuation –
Tube in tube method
1 Scope
This triaxial method is suitable to determine the surface transfer impedance and/or screening
attenuation and coupling attenuation of mated screened connectors (including the connection
between cable and connector) and cable assemblies. This method could also be extended to
determine the transfer impedance, coupling or screening attenuation of balanced or multipin
connectors and cable assemblies.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document.
For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition
of the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 61196-1:2005, Coaxial communication cables – Part 1: Generic specification – General,
definitions and requirements
IEC 62153-4-4, Metallic communication cable test methods – Part 4-4: Electromagnetic
compatibility (EMC) – Shielded screening attenuation, test method for measuring of the
screening attenuation a up to and above 3 GHz
s
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.
3.1
surface transfer impedance
Z
T
for an electrically short screen, quotient of the longitudinal voltage U induced to the inner
circuit by the current I fed into the outer circuit or vice versa [Ω] (see Figure 1)
The value Z of an electrically short screen is expressed in ohms [Ω] or decibels in relation to
T
1 Ω.
—————————
To be published
– 14 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
I I
2 2
l < λ/10
U
IEC  598/06
Figure 1 – Définition de Z
T
U
Z =
(1)
T
I
§ ·
Z
T
¨ ¸
Z dB(Ω) = +20 × log
(2)
T 10
¨ ¸
1Ω
© ¹
3.2
impédance de transfert efficace
Z
TE
impédance définie comme:
Z = max Z ± Z
(3)
TE F T
où Z est l’impédance de couplage capacitif.
F
3.3
affaiblissement d’écran
a
s
pour les dispositifs électriquement longs, c’est-à-dire au-delà de la fréquence de coupure, le
rapport logarithmique de la puissance d’alimentation P et des valeurs maximales périodiques
de la puissance couplée P dans le circuit externe
r,max
§ ·
P
r,max
¨ ¸
a =− 10× log Env
(4)
s 10
¨ ¸
P
© ¹
L’affaiblissement d’écran d’un dispositif électriquement court est défini par:
150Ω
a =− 20⋅ ×log
(5)
s 10
Z
TE
où
est l’impédance normalisée du circuit externe.
150 Ω
62153-4-7 © IEC:2006 – 15 –
I I
2 2
l < λ/10
U
IEC  598/06
Figure 1 – Definition of Z
T
U
Z =
(1)
T
I
§ ·
Z
T
¨ ¸
Z dB(Ω) = +20 × log
(2)
T 10
¨ ¸
1Ω
© ¹
3.2
effective transfer impedance
Z
TE
impedance defined as:
Z = max Z ± Z
(3)
TE F T
where Z is the capacitive coupling impedance.
F
3.3
screening attenuation
a
s
for electrically long devices, i.e. above the cut-off frequency, logarithmic ratio of the feeding
power P and the periodic maximum values of the coupled power P in the outer circuit
1 r,max
§ ·
P
r,max
¨ ¸
a =− 10× log Env
(4)
s 10
¨ ¸
P
© ¹
The screening attenuation of an electrically short device is defined as:
150Ω
a =− 20⋅ ×log
(5)
s 10
Z
TE
where
is the standardized impedance of the outer circuit.
150 Ω
– 16 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
3.4
affaiblissement de couplage
a
c
pour un dispositif symétrique blindé, somme de l’affaiblissement asymétrique a de la paire
U
symétrique et de l’affaiblissement d’écran a de l’écran du dispositif en essai
S
Pour les dispositifs électriquement longs, c’est-à-dire au-delà de la fréquence de coupure,
l’affaiblissement de couplage a est défini comme le rapport logarithmique de la puissance
c
d’alimentation P et des valeurs maximales périodiques de la puissance couplée P dans le
1 r,max
circuit externe.
3.5
longueur de couplage
la longueur de couplage est électriquement courte si
c
λ
o
o
>10 × ε ou f <
r1 (6)
l
10 × l × ε
r1
ou électriquement longue si
c
λ
o
o
≤2 × ε − ε ou f >
r1 r2
(7)
l
2 × l × ε − ε
r1 r2
où
est la longueur de couplage efficace en m;
l
est la longueur d’onde de l’espace libre en m;
λo
est la permittivité relative résultante du diélectrique du câble;
ε
r1
est la permittivité relative résultante du diélectrique du circuit secondaire;
ε
r2
f est la fréquence en Hz.
c
est la vitesse de la lumière en espace libre.
o
3.6
dispositif en essai
dispositif constitué de connecteurs adaptés avec leurs câbles attachés
4 Principe de la méthode d’essai
Généralement, les connecteurs RF ont des dimensions mécaniques selon l’axe longitudinal
dans une gamme comprise entre 20 mm et 50 mm maximum. Avec la définition des courts
éléments électriques, on obtient des fréquences de coupure ou des fréquences de cassure ou
une cassure pour la transition entre les éléments électriquement courts et électriquement longs
d’environ 1 GHz ou plus pour des connecteurs RF habituels.
Dans la gamme de fréquences jusqu’à la fréquence de coupure, où le dispositif en essai est
électriquement court, il est possible de mesurer l’impédance de transfert du dispositif en essai.
Pour les fréquences supérieures à la fréquence de coupure, où le dispositif en essai est
électriquement long, on peut mesurer l’affaiblissement d’écran.

62153-4-7 © IEC:2006 – 17 –
3.4
coupling attenuation
a
C
for a screened balanced device, sum of the unbalance attenuation a of the symmetric pair
U
and the screening attenuation a of the screen of the device under test
S
For electrically long devices, i.e. above the cut-off frequency, the coupling attenuation a is
C
defined as the logarithmic ratio of the feeding power P and the periodic maximum values of
the coupled power P in the outer circuit.
r,max
3.5
coupling length
the coupling length is electrically short, if
c
λ
o
o
>10 × ε or f <
r1 (6)
l
10 × l × ε
r1
or electrically long, if
c
λ
o
o
≤2 × ε − ε or f >
r1 r2
(7)
l
2 × l × ε − ε
r1 r2
where
l
is the effective coupling length in m;
λo is the free space wave length in m;
ε is the resulting relative permittivity of the dielectric of the cable;
r1
ε is the resulting relative permittivity of the dielectric of the secondary circuit;
r2
f is frequency in Hz;
c is the velocity of light in free space.
o
3.6
device under test
device consisting of the mated connectors with their attached cables
4 Principle of the test method
Usually RF connectors have mechanical dimensions in the longitudinal axis in the range of
20 mm to maximum 50 mm. With the definition of electrical short elements we get cut off or
corner frequencies or corner for the transition between electrically short and long elements of
about 1 GHz or higher for usual RF-connectors.
In the frequency range up to the cut off frequency, where the device under test (DUT) is
electrically short, the transfer impedance of the DUT can be measured. For frequencies above
the cut-off frequency, where the DUT is electrically long, the screening attenuation can be
measured.
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