EN 61076-4-001:1996

SLOVENSKI STANDARD
01-september-2002
Connectors with assessed quality, for use in d.c., low frequency analogue and
digital high-speed data applications - Part 4: Printed board connectors - Section
001: Blank detail specification (IEC 61076-4-001:1996)
Connectors with assessed quality, for use in d.c., low-frequency analogue and in digital
high-speed data applications -- Part 4: Printed board connectors -- Section 001: Blank
detail specification
Steckverbinder mit bewerteter Qualität für Gleichspannungs- und
Niederfrequenzanwendungen sowie digitale Anwendungen mit hoher Übertragungsrate -
- Teil 4: Steckverbinder für gedruckte Schaltungen -- Hauptabschnitt 001: Vordruck für
Bauartspezifikation
Connecteurs sous assurance de la qualité, pour utilisation dans le cadre d'applications
analogiques en courant continu et à basse fréquence et dans le cadre d'applications
numériques utilisant des débits élevés pour le transfert des données -- Partie 4:
Connecteurs pour cartes imprimées -- Section 001: Spécification particulière cadre
Ta slovenski standard je istoveten z: EN 61076-4-001:1996
ICS:
31.220.10 9WLþLLQYWLþQLFHNRQHNWRUML Plug-and-socket devices.
Connectors
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
INTERNATIONAL 1076-4-001
QC 480301
STANDARD
Première
édition
First edition
1996-08
Connecteurs sous assurance de la qualité,
pour utilisation dans le cadre d'applications
analogiques en courant continu et à basse
fréquence et dans le cadre d'applications
numériques utilisant des débits élevés pour
le transfert des données –
Partie 4:
Connecteurs pour cartes imprimées –
Section 001: Spécification particulière cadre
Connectors with assessed quality, for use
in d.c., low-frequency analogue and in
digital high-speed data applications –
Part 4:
Printed board connectors –
Section 001: Blank detail specification
© CEI 1996 Droits de reproduction réservés —Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut 'être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized
sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, in any form or by any means, electronic or mechanical,
utilisée
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les including photocopying and microfilm, without permission
microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. in writing from the publisher
Bureau central de la Commission Electrotechnique Inte rnationale 3, rue de Varembé Genève Suisse
Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX
XB J^
International Electrotechnical Commission PRICE CODE
IEC
MemmgyHapogHae 3neKrporexHH yecKaa
HoMHCCHn
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• •
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1076-4-001 © IEC:1996 - 3 -
CONTENTS
Page
FOREWORD 9
INTRODUCTION 11
Clause
1 General data 15
1.1 Recommended method of mounting 15
1.1.1 Number of contacts or contact cavities 15
1.2 Ratings and characteristics 15
1.3 Normative references 18
1.4 Marking 18
1.5 IEC type designation
1.6 Ordering information
2 Technical information
2.1 Definitions
2.2 Survey of styles and variants
2.3 Information on application
2.3.1 Complete connectors (pairs) 26
2.3.2 Fixed board connectors 26
2.3.3 Free board connectors 26
2.3.4 Accessories 30
2.3.4.1 Special contacts 30
2.3.4.2 Coding devices 30
2.3.4.3 Mounting devices 30
2.3.5 Shielding/grounding 30
2.3.6 Basic type of terminations 30
2.4 Contact arrangements 30
3 Dimensional information 34
3.1 General
3.2 Isometric view and common features
3.2.1 Common features
3.2.2 Reference system
3.2.3 Height dimensions
3.2.4 Width dimensions 38
3.2.5 Depth dimensions 38
1076-4-001 © IEC:1996 – 5 —
Clause Page
3.3 Engagement (mating) information
3.3.1 Electrical engagement length
3.3.1.1 Contact levels and sequencing
3.3.2 Perpendicular to the engaging (mating) direction 42
3.3.3 Inclination 42
3.4 Fixed board connectors 42
3.4.1 Dimensions 42
3.4.2 Terminations
3.5 Free board connectors
3.5.1 Dimensions
3.5.2 Terminations
3.6 Accessories
3.7 Mounting information for fixed board connectors
3.7.1 Hole pattern on printed boards
3.7.2 Mounting on panels
3.8 Mounting information for free board connectors 50
3.9 Gauges
3.9.1 Sizing gauges and retention force gauges 50
3.9.2 Mechanical operation, engaging/separating force, insertion/withdrawal
force gauges
3.9.3 Probes
3.9.4 Contact resistance gauge
3.9.5 Test panel (for voltage proof test)
4 Characteristics
4.1 Climatic category 58
4.2 Electrical 58
4.2.1 Creepage and clearance distances 58
4.2.2 Voltage proof 58
4.2.3 Current-carrying capacity 62
4.2.4 Contact resistance
4.2.5 Insulation resistance
4.3 Mechanical
4.3.1 Mechanical operation
4.3.2 Engaging and separating forces (or insertion and withdrawal forces) 66
4.3.3 Contact retention in insert
4.3.4 Polarizing method 66
1076-4-001 © - 7 -
IEC:1996
Clause Page
5 Test schedule 70
5.1 General 70
5.1.1 Arrangement for contact resistance measurements 70
5.1.2 Arrangement for dynamic stress tests 70
5.1.3 Arrangement for testing static load, axial 70
5.1.4 Wiring of specimens 70
5.2 Test schedules 74
5.2.1 Basic test schedule
5.2.2 Full test schedule 78
5.2.2.1 Test group P - Preliminary
5.2.2.2 Test group AP - Dynamic/climatic
BP - Mechanical endurance 90
5.2.2.3 Test group
CP - Moisture 98
5.2.2.4 Test group
DP - Electrical load 98
5.2.2.5 Test group
5.2.2.6 Test group EP - Mechanical resistivity 102
FP - Chemical resistivity 106
5.2.2.7 Test group
GP - Connections 106
5.2.2.8 Test group
HP - Additional 106
5.2.2.9 Test group
6 Quality assessment procedures 110
6.1 Qualification approval testing 110
6.1.1 Method 1 110
6.1.2 Method 2 110
6.2 Quality conformance inspection 114
6.2.1 Lot-by-lot tests 114
6.2.2 Periodic tests 118
6.3 Delayed delivery, re-inspection 122
Annexes
A Requirements for application to mechanical structures
B New tests and additional test phases

1076-4-001 © IEC:1996 - 9 -
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
CONNECTORS WITH ASSESSED QUALITY,
FOR USE IN DC, LOW-FREQUENCY ANALOGUE AND
IN DIGITAL HIGH-SPEED DATA APPLICATIONS —
Part 4: Printed board connectors —
Section 001: Blank detail specification
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization
comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to
promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic
fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their
preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt
with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations
liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, express as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the
3)
s or guides and they are accepted by the National Committees in that
form of standards, technical report
sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
5)
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the
6)
subject of patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 1076-4-001 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors,
of technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for
electronic equipment.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Repo rt on voting
48B/465/FDIS 486/513/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
Annexes A and B form an integral part of this standard.
The QC number that appears on the front of cover of this publication is the specification
number in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ).

1076-4-001 © 11 –
IEC:1996 –
INTRODUCTION
In prior years, IEC subcommittee 48B had prepared detail specifications as part of a two-level
document system. When the IECQ system was introduced, SC48B was urged to consider
changing to the four-level specification system as described in IEC Guide 102. This blank detail
specification is part of that four-level document system.
This blank detail specification is a supplementary document to the sectional specification IEC
1076-4 and contains requirements for style, lay-out and minimum content of detail
specifications.
For the scope and definition of this blank detail specification, see 1.2.2 of IEC 1076-1 and 1.1
of IEC 1076-4.
Detail specifications not complying with these requirements shall not be considered as being in
accordance with the IECQ system, nor shall they be so described.
The complete requirements for the printed board connectors described herein should
correspond to this blank detail specification and the current issues of IEC 1076-1 and
IEC 1076-4.
In the preparation of detail specifications, the contents of 1.2.3 of IEC 1076-1 should be taken
into account.
In order to facilitate the use of this standard, the guide and text pages are printed side by side. French pages are
followed immediately by the English pages. This layout applies from page 12 to page 123.

1076-4-001 © IEC:1996 – 13 –
[1] Numéro de la spécification particulière
[2]
Numéro de la spécification générique Numéro de la spécification particulière
cadre
Composants électroniques sous assurance de la qualité
[4]
en conformité avec:
[3]
Description du produit
Dessin d'encombrement
[5]
[7]
[6]
[8]
Niveau(x) de performance:
Niveau(x) d'assurance:
Combinaison des
niveaux de performance et
des niveaux d'assurance:
[9] Se référer à la liste des produits homologués pour connaître les composants disponibles homologués
conformes à cette spécification particulière.
1 Informations générales
1.1 Méthode de montage recommandée
Voir annexe A, guide dans la mise en oeuvre de ces connecteurs dans les structures
mécaniques, selon la CEI 917.
1.1.1 Nombre de contacts ou d'alvéoles
1.2 Valeurs nominales et caractéristiques
Courant nominal à 70 °C
Tension nominale
Catégorie climatique
Résistance d'isolement
Espacement des contacts
Epaisseur de la carte imprimée

1076-4-001 ©IEC:1996 - 15 -
[1] Detail specification number
[2]
Generic specification number Blank detail specification number
Electronic components of assessed quality in accordance with : [4]
[3]
Outline drawing Product description
[7] [5]
[6]
[8]
ormance level(s):
Perf
Assessment level(s):
Combination of pe rformance levels
and assessment levels:
[9] Information on the availability of components qualified to this detail specification is given in the qualified
products list.
1 General data
1.1 Recommended method of mounting
See annex A for guide on the application of these connectors in mechanical structures
according to 1EC 917.
1.1.1 Number of contacts or contact cavities
1.2 Ratings and characteristics

Current rating at 70 °C
Rated voltage
Insulation resistance Climatic category

Contact spacing
Printed board thickness
1076-4-001 © IEC:1996 – 17 –
1.3 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente section de la CEI 1076-4.
Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente section de la
CEI 1076-4 sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le
registre des normes internationales en vigueur.
CEI 68-2-60TTD: 1990, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai Ke: Essais de
corrosion en atmosphère artificielle à très basse concentration de gaz polluant(s)
CEI 1076-1: 1995, Connecteurs sous assurance de la qualité, pour utilisation dans le cadre
d'applications analogiques en courant continu et à basse fréquence et dans le cadre
d'applications numériques utilisant des débits élevés pour le transfert de données – Partie 1:
Spécification générique
CEI 1076-4: 1995, Connecteurs sous assurance de la qualité, pour utilisation dans le cadre
d'applications analogiques en courant continu et à basse fréquence et dans le cadre
d'applications numériques utilisant des débits élevés pour le transfert des données – Partie 4:
Spécification intermédiaire – Connecteurs pour cartes imprimées
1.4 Marquage
Le marquage du connecteur et de son emballage doit être conforme à 2.6 de la CEI 1076-4.

1076-4-001 © IEC:1996 – 19 –
1.3 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this section of IEC 1076-4. At the time of publication, the editions
indicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to agree-
ments based on this section of IEC 1076-4 are encouraged to investigate the possibility of
applying the most recent editions of the normative documents indicated below. Members of IEC
and ISO maintain registers of currently valid International Standards.
Environmental testing – Part 2: Tests – Test Ke: Corrosion tests in
IEC 68-2-60TTD: 1990,
artificial atmosphere at very low concentration of polluting gas(es)
IEC 1076-1: 1995, Connectors with assessed quality, for use in d.c., low-frequency analogue
and in digital high-speed data applications – Part 1: Generic specification
IEC 1076-4: 1995, Connectors with assessed quality, for use in d.c., low-frequency analogue
4: Sectional specification – Printed board
and in digital high-speed data applications – Pa rt
connectors
1.4 Marking
The marking of the connector and the package shall be in accordance with 2.6 of IEC 1076-4.

1076-4-001 © IEC:1996 - 21 -
Désignation
1.5 du type CEI
1.6 Information pour les commandes

- 23 -
1076-4-001 © 1 EC:1996
1.5 IEC type designation
1.6 Ordering information
- 25 -
1076-4-001 © IEC:1996
2 Informations techniques
2.1 Définitions
modèles et variantes
2.2 Description des
Modèles et variantes
Tableau 1 -
Lettre de référence du Modèle
Modèle de connecteur
et nombre de contacts
2.3 Informations sur l'utilisation
connecteurs
2.3.1 Couples de
2.3.2 Embases
2.3.3 Fiches
- 27 -
1076-4-001 © IEC:1996
2 Technical information
2.1 Definitions
2.2 Survey of styles and variants
Table 1 - Styles and variants
Style reference letter
Connector style and
number of contacts
2.3 Information on application
2.3.1 Complete connectors (pairs)
2.3.2 Fixed board connectors
2.3.3 Free board connectors
1076-4-001 © IEC:1996 - 29 -
2.3.4 Accessoires
2.3.4.1 Contacts spéciaux
2.3.4.2 Dispositifs de codage
2.3.4.3 Dispositifs de montage
2.3.5 Blindage/Mise à la terre
2.3.6 Type de sorties
2.4 Arrangement des contacts
1076-4-001 © IEC:1996 -31 -
2.3.4 Accessories
2.3.4.1 Special contacts
2.3.4.2 Coding devices
2.3.4.3 Mounting devices
2.3.5 Shielding/grounding
2.3.6 Basic type of terminations
2.4 Contact arrangements
1076-4-001 ©IEC:1996 – 33 –
3 Informations sur les dimensions
3.1 Généralités
La forme des connecteurs peut varier par rapport à celle qui est indiquée sur les dessins
ci-après, du moment que les dimensions spécifiées ne sont pas affectées.
Vue en perspective et caractéristiques communes
3.2
Tableau 2 – Vue en perspective et caractéristiques communes
Dimension Caractéristique
Référence
1076-4-001 © IEC:1996 – 35 –
3 Dimensional information
3.1 General
The shape of the connectors may deviate from those given in the following drawings as long as
the specified dimensions are not influenced.
3.2 Isometric view and common features
Table 2 – Isometric view and common features

Dimension Feature description
Reference
1076-4-001 © IEC:1996 – 37 –
3.2.1 Caractéristiques
communes
3.2.2 Système de référence
Les dimensions de coordination sont les dimensions sans tolérances, qui indiquent les limites
ou les axes de référence afin de permettre l'assemblage modulaire.
3.2.3 Dimensions en hauteur
3.2.4 Dimensions en largeur
3.2.5 Dimensions en
profondeur
1076-4-001 © – 39 –
IEC:1996
3.2.1 Common features
3.2.2 Reference system
Co-ordination dimensions are dimensions without tolerances which indicate the boundary or
centre line references in order to allow for (modular) arrangement.
3.2.3 Height dimensions
3.2.4 Width dimensions
3.2.5 Depth dimensions
1076-4-001 © IEC:1996 - 41 -
3.3 Informations
sur l'accouplement
des contacts
3.3.1 Engagement électrique
3.3.1.1 Niveaux et séquencement des contacts
3.3.2 Direction perpendiculaire à l'axe d'accouplement
3.3.3 Inclinaison
3.4 Embases
3.4.1 Dimensions
3.4.2 Sorties
1076-4-001 © IEC:1996 - 43 -
3.3 Engagement (mating) information
3.3.1 Electrical engagement length
3.3.1.1 Contact levels and sequencing
3.3.2 Perpendicular to the engaging (mating) direction
3.3.3 Inclination
3.4 Fixed board connectors
3.4.1 Dimensions
3.4.2 Terminations
-4-001 © IEC:1996 - 45 -
3.5 Fiches
3.5.1 Dimensions
3.5.2 Sorties
Accessoires
3.6
embases
3.7 Informations relatives au montage des
3.7.1 Plan de perçage des cartes imprimées

1076-4-001 © IEC:1996 - 47 -
3.5 Free board connectors
3.5.1 Dimensions
3.5.2 Terminations
3.6 Accessories
3.7 Mounting information for fixed board connectors
3.7.1 Hole pattern on printed boards

1076-4-001 ©
IEC:1996 - 49 -
3.7.2 Montage sur les panneaux
3.8 Informations relatives au montage des fiches
3.9 Calibres
3.9.1 Calibres de forçage et de forces de rétention

1076-4-001 © IEC:1996 - 51 -
3.7.2 Mounting on panels
3.8 Mounting information for free board connectors
3.9 Gauges
3.9.1 Sizing gauges and retention force gauges

1076-4-001 © IEC:1996 - 53 -
3.9.2 Calibres concernant le fonctionnement mécanique, les forces d'accouplement, de
désaccouplement, d'insertion et d'extraction
3.9.3 Sondes
3.9.4 Calibre pour la résistance de contact
3.9.5 Panneau d'essai (pour l'essai de tension de tenue)

1076-4-001
© IEC:1996 - 55 -
3.9.2 Mechanical operation, engaging/separating force, insertion/withdrawal force
gauges
3.9.3 Probes
3.9.4 Contact resistance gauge
3.9.5 Test panel (for voltage proof test)

1076-4-001 © IEC:1996 - 57 -
4 Caractéristiques
4.1 Catégorie climatique
Tableau 3 - Niveaux de performance
Niveaux de Catégorie Temperature Chaleur humide,
essai continu:
performance climatique Inférieure Supérieure
°C °C nombre de jours
4.2 Caractéristiques électriques
4.2.1 Lignes de fuite et distances dans l'air
Tableau 4 - Lignes de fuite et distances dans l'air
Modèle du connecteur
Modèle de lettre(s) de référence
et
nombre de contacts
Lignes de fuite minimum
et
distances dans l'air
"Informations relatives à l'utilisation - La tension nominale admissible est fonction de
l'utilisation ou des prescriptions de sécurité spécifiées. Des réductions des lignes de
fuite et distances dans l'air peuvent avoir lieu en fonction de la carte imprimée ou du
câblage utilisé, et elles doivent être dûment prises en compte."
4.2.2 Tension de tenue
Conditions: CEI 512, Essai 4a.
Conditions atmosphériques normales

1076-4-001 © IEC:1996 - 59 -
4 Characteristics
4.1 Climatic category
Table 3 - Performance levels
Temperature Damp heat,
Performance Climatic
Lower Upper steady state:
level category
°C °C number of days
4.2 Electrical
4.2.1 Creepage and clearance distances
Table 4 - Creepage and clearance distances
Connector style
and Style reference letter(s)
number of contacts
Minimum creepage
and
clearance distance
"Application information - The permissible rated voltage depends on the application or
specified safety requirement. Reductions in creepage or clearance distances may occur
due to the printed board or wiring used, and shall be duly taken into account."
4.2.2 Voltage proof
Condition: IEC 512, test 4a.
Standard atmospheric conditions.

1076-4-001 © 61 –
IEC:1996 –
4.2.3 Courant limite
Conditions: CEI 512, Essai 5b.
Tous les contacts.
Les valeurs à 70 °C sont indiquées sur une courbe de réduction de l'intensité.
4.2.4 Résistance de contact
Conditions: CEI 512, Essai
2a.
Conditions atmosphériques normales.
4.2.5 Résistance d'isolement
Conditions: CEI 512, Essai 3a.
Conditions atmosphériques normales.
4.3 Caractéristiques mécaniques
4.3.1 Fonctionnement mécanique
Conditions: CEI 512, Essai 9a.
Conditions atmosphériques normales.

1076-4-001 © IEC:1996 – 63 –
4.2.3 Current-carrying capacity
Conditions: IEC 512, test 5b.
All contacts.
Values at 70 °C are shown in a derating graph.
4.2.4 Contact resistance
Conditions: IEC 512, test 2a.
Standard atmospheric conditions.
4.2.5 Insulation resistance
Conditions: IEC 512, test 3a.
Standard atmospheric conditions.
4.3 Mechanical
4.3.1 Mechanical operation
Conditions: IEC 512, test 9a.
Standard atmospheric conditions.

1076-4-001 © IEC:1996 - 65 -
4.3.2 Forces d'accouplement et de désaccouplement (ou forces d'insertion et
d'extraction)
13b.
Conditions: CEI 512, Essai 13a ou Essai
4.3.3 Rétention des contacts dans l'isolant
Conditions: CEI 512, Essai 15a.
Conditions atmosphériques normales.
La mesure du déplacement axial, lorsque la force est appliquée, n'est pas exigée.
4.3.4 Méthode de polarisation
Conditions: CEI 512, Essai 13e.
Conditions atmosphériques normales.

1076-4-001 ©
IEC:1996 — 67 —
4.3.2 Engaging and separating forces (or insertion and withdrawal forces)
Conditions: IEC 512, test 13a or test 13b.
4.3.3 Contact retention in insert
Conditions: IEC 512, test 15a.
Standard atmospheric conditions.
The measurement of axial displacement while force is applied is not required.
4.3.4 Polarizing method
Conditions: IEC 512, test 13e.
Standard atmospheric conditions.

1076-4-001 © IEC:1996 – 69 –
5 Programme
d'essais
Généralités
5.1
Le programme d'essais indique tous les essais à effectuer dans l'ordre ainsi que les exigences
à remplir.
Sauf spécification contraire, on doit essayer des jeux de connecteurs accouplés. Durant la
séquence complète d'essais, on doit faire attention à conserver une combinaison particulière
de connecteurs; par exemple, lorsque le désaccouplement est nécessaire pour un certain
essai, les mêmes connecteurs doivent être utilisés pour les essais suivants.
Dans ce qui suit, un jeu de connecteurs accouplés est appelé un spécimen.
mesure de la résistance de contact
5.1.1 Arrangement relatif à la
Conditions: CEI 512, Essai 2a.
La mesure de la résistance de contact doit être effectuée sur le nombre de contacts spécifiés.
Toutes les mesures ultérieures doivent être faites sur les mêmes contacts.
5.1.2 Arrangement relatif aux essais de contrainte dynamique
Conditions: CEI 512, Essais 6a, 6b, 6c et 6d.
5.1.3 Arrangement relatif à l'essai de charge statique axiale
Conditions: CEI 512, Essai 8b.
5.1.4 Câblage des spécimens
– 71 –
1076-4-001 © IEC:1996
5 Test schedule
5.1 General
This test schedule shows the tests and the order in which they shall be carried out, as well as
the requirements to be met.
Unless otherwise specified, mated sets of connectors shall be tested. Care shall be taken to
keep a particular combination of connectors together during the complete test sequence; for
example, when unmating is necessary for a certain test, the same connectors shall be mated
for the subsequent tests.
In the following, a mated set of connectors is called a specimen.
5.1.1 Arrangement for contact resistance measurements
Conditions: IEC 512, test 2a.
The measurement of contact resistance shall be carried out on the number of contacts
specified. Any subsequent measurements of contact resistance shall be made on the same
contacts.
5.1.2 Arrangement for dynamic stress tests
Conditions: IEC 512, test 6a, 6b, 6c and 6d.
5.1.3 Arrangement for testing static load, axial
Conditions: IEC 512, test 8b.
5.1.4 Wiring of specimens
1076-4-001 © IEC:1996 - 73 -
5.2 Programmes
d'essais
5.2.1 Programme d'essais de base (minimal)
Tableau 5 - Essais de base
Phase Essai Mesure à effectuer Exigences
d'essai Titre CEI 512 Sévérité ou condition Titre CEI 512 NP Tous modèles de
Essai N° d'essai Essai N° connecteurs
Examen Connecteurs non Examen 1a
1 Aucun dommage
visuel
général accouplés susceptible d'empêcher le
fonctionnement normal.
Examen des 1 b Les dimensions, y
dimensions compris les lignes de fuite
et masse et distances dans l'air,
doivent être conformes à
celles spécifiées.
2.1 Vitesse: A en mm/s Forces d'ac- 13a Voir 4.3.2.
maximum couplement
et de
désaccou-
plement
ou
2.2 Forces 13b Voir 4.3.2.
d'insertion et
d'extraction
3 Points de connexion Résistance 2a ou 2b C mil maximum,
comme dans le 5.1.1 de contact
voir aussi 4.2.4.
B contacts par
spécimen
Tension d'essai D V, Résistance 3a G MO minimum,
méthode E, F d'isolement voir aussi 4.2.5.
contacts par
spécimen
Tension de 4a Pas de claquage,
5 Méthode H,
J contacts par tenue ni contournement.
spécimen
Entre les contacts:
K en V cc ou eff.
ou
entre les contacts et
le panneau d'essai:
L en V cc ou eff.
Soudure 12 series Résistance 2a ou 2b Voir 4.2.4.
6.1
ou de contact, y
compris les
6.2 Autre 1)
sorties
méthode de
connexion
applicable
1) Si le connecteur comporte des sorties soudées, les essais et conditions appropriés doivent être sélectionnés
dans la CEI 512. Dans le cas de sorties sans soudure, d'autres essais de connexion appropriés doivent compléter
ou remplacer les essais spécifiés, par exemple, les essais de la CEI 1076-4 ou les essais des parties applicables
de la CEI 352, tels que le groupe GP du programme d'essais complet.

1076-4-001 © IEC:1996 - 75 -
5.2 Test schedules
5.2.1 Basic (minimum) test schedule
Table 5 - Basic tests
Test Test Measurement to be
Requirements
phase performed
Title IEC 512 Severity or Title IEC 512
PL All connector
Test No. condition of test
Test No. styles
1 General Visual
Unmated 1 a There shall be no defect
examination
connectors examination; that would impair normal
operation.
Examination 1b The dimensions including
of dimen- creepage and clearance
sions and shall comply with those
mass specified.
2.1 Speed: A mm/s Engaging and 13a See 4.3.2.
maximum separating
forces
or
2.2
Insertion 13b See 4.3.2.
and with-
drawal forces
3 Connection Contact 2a or 2b C m12 maximum,
points as in 5.1.1 resistance
see also 4.2.4.
B contacts per
specimen
4 Test voltage D Insulation 3a G MO minimum,
V, resistance
see also 4.2.5.
method E, F
contacts per
specimen
5 Method H, Voltage 4a There shall be no
J contacts proof breakdown or
per specimen
flashover.
Between
contacts:
K V d.c. or r.m.s.
or
between
contacts and test
panel:
L V d.c. or r.m.s.
6.1 Soldering 12 Contact 2a or 2b See 4.2.4.
or series 1) resistance
6.2 Other including
applicable termination
connection
method
1)
If the connector features solder terminations, the appropriate test(s) and condition(s) shall be selected from
IEC 512. In case of solderless terminations,
other appropriate connection tests shall be additional to, or replace the
specified
tests, for example tests of IEC 1076-4, such as test group GP of the full test schedule or tests of the
applicable parts of IEC 352.
1076-4-001 © – 77 –
IEC:1996
5.2.2 Programme d'essais complet
5.2.2.1 Groupe d'essais P — Préliminaire
Tous les spécimens doivent être soumis aux essais suivants:
Tableau 6 — Groupe d'essais P
Phase Essai Mesure à effectuer Exigences
d'essai Titre CEI 512 Sévérité ou Titre CEI 512 NP Tous modèles de
Essai N° condition Essai N° connecteurs
d'essai
P1 Examen Voir phase Examen visuel 1a Voir phase d'essai 1
général d'essai 1
Examen de 1 b
dimension et
masse
1)
P2 Méthode de 13e Force à
polarisation appliquer M
en N
P3 Voir phase Résistance de 2a Voir phase d'essai 3
d'essai 3 contact
Voir phase d'essai 4
P4 Voir phase Résistance 3a
d'essai 4 d'isolement
Voir phase d'essai 5
P5 Voir phase Tension de tenue 4a
d'essai 5
1)
Si applicable
1076-4-001 © IEC:1996 – 79 –
5.2.2 Full test schedule
5.2.2.1 Test group P – Preliminary
All specimens shall be subject to the following tests:
Table 6 – Test group P
Test Test Measurement to be Requirements
phase performed
Title IEC 512 Severity or Title IEC 512 PL All connector
Test No. condition of test Test No. styles
P1 General See test phase 1 Visual is See test phase 1
examination examination;
Examination 1b
of dimen-
sions and
mass
Force to be
P2 1) Polarizing 13e
method applied M in N
P3 See test phase 3 Contact 2a See test phase 3
resistance
See test phase 4 Insulation 3a See test phase 4
P4
resistance
See test phase 5 Voltage 4a See test phase 5
P5
proof
1) If applicable.
1076-4-001 © IEC:1996 – 81 –
Les spécimens doivent être répartis dans un nombre de groupes suffisant (voir 6.1).
Tous les connecteurs de chaque groupe doivent subir les essais spécifiés pour le groupe en
question.
5.2.2.2 Groupe d'essais AP – Essais dynamiques/climatiques
Tableau 7 – Groupe d'essais AP
Essai Mesure à effectuer Exigences
Phase
d'essai Titre CEI 512 Sévérité ou condition Titre CEI 512 NP Tous modèles de
Essai N° d'essai Essai N° connecteurs
AP1.1 Forces d'ac- 13a Voir aussi 4.3.2
Voir phase d'essai
2.1 couplement et
de désaccou-
plement
ou
AP1.2 Voir phase d'essai Forces 13b
d'insertion et
2.2
d'extraction
1)
AP2 Endomma- 16a Moment N en Nm, Force de 16e Mêmes P contacts
gement par P contacts par rétention du par spécimen
sonde spécimen calibre Le calibre doit être
d'essai retenu
AP3.1 Soudabilité 12a ou Profondeur
ou 12b d'immersion Q en
mm ou fer taille R
AP3.2 Résistance 12d ou Temps d'immersion S Examen visuel 1 a Voir phase d'essai 1
au soudage 12e en s.
ou
AP3.32) A définir A définir A définir
3)
AP4 Voir phase d'essai 5 Tension de 4a Voir phase d'essai 5
tenue
AP5 Rétention 15a Force axiale Déplacement
des contacts admissible une fois la
T en N
force supprimée: V
dans
en mm maximum
l'isolant
Examen visuel la Voir phase d'essai 1
AP6 Secousses 6b W en m/s2, Perturbation 2e Durée de la
des contacts perturbation, Y en µs
X secousses au
total, maximum
pour l'arrangement,
voir 5.1.2
Examen visuel 1a Voir phase d'essai 1
Résistance de 2a ou 2b Voir phase d'essai 3
contact
1)
Si applicable. Sinon, la mesure doit toutefois être effectuée.
2)
D'autres essais sur les sorties peuvent être couverts par d'autres séquences d'essais.
3) A
mettre en oeuvre uniquement lorsqu'un essai de soudure est réalisé sur les contacts en place.

1076-4-001 © IEC:1996 – 83 –
The specimens shall be divided into a sufficient number of groups (see 6.1).
All connectors in each group shall undergo the tests specified for the relevant group.
5.2.2.2 Test group AP – Dynamic/climatic
Table 7 – Test group AP
Test Test Measurement to be Requirements
phase performed
Title IEC 512 Severity or Title IEC 512 PL All connector
Test No. condition of test Test No. styles
AP1.1 See test phase 2.1 Engaging 13a See also 4.3.2
and
separating
forces
or
AP1.2 See test phase 2.2 Insertion and 13b
withdrawal
forces.
AP2 1) Probe 16a Bending moment: Gauge 16e Same P contacts
damage N in Nm, retention per specimen
P contacts force The gauge shall
per specimen be retained
AP3.1 Solderability 12a Immersion depth
or or 12b Q mm or size R
iron.
12d Immersion time Visual 1a See test phase 1
AP3.2 Resistance
examination
to solder or 12e S in s
heat
or
AP3.3 To be To be To be defined
2 ) defined defined
AP43) See test phase 5 Voltage 4a See test phase 5
proof
AP5 Contact 15a Axial force Allowed
retention T in N displacement
in insert when force is
removed:
V mm maximum
Visual 1 a See test phase 1
examination
AP6 Bump 6b W in m/s 2 , Contact 2e Duration of
X bumps in total, disturbance disturbance
for arrangement Y in us maximum
see 5.1.2
Visual 1 a See test phase 1
examination
Contact 2a or 2b See test phase 3
resistance
1 ) If applicable, if not, measurement shall still be performed.
may be covered by other test sequences.
2) Other applicable termination tests
3) To be performed only when a soldering test is carried out with contacts installed.

1076-4-001 © IEC:1996 - 85 -
5.2.2.2 Groupe d'essais AP — Essais dynamiques/climatiques (suite)
Tableau 7 — Groupe d'essais AP (suite)
Phase Essai Mesure à effectuer Exigences
Titre NP
d'essai Titre CEI 512 Sévérité ou condition CEI 512 Tous modèles de
Essai N° d'essai Essai N° connecteurs
AP7 Vibrations 6d Z en Hz à Al en Hz Perturbation 2e Durée de la
B1 en mm, C1 en m/s 2 , de contact perturbation: Y en µs
durée totale. maximum
Endurance en balayant Examen la Voir phase d'essai 1
D1 cycles dans chaque visuel
sens.
Pour l'arrangement, Résistance 2a ou 2b Voir phase d'essai 3
de contact
voir 5.1.2.
Chocs Demi-impulsion Perturbation 2e Durée de la
AP8 6c
2 , de contact perturbation: Y en us
El en m/s
F1 en ms. maximum
Examen la Voir phase d'essai 1
visuel
Résistance 2a ou 2b Voir phase d'essai 3
de contact
AP9 1 Accéléra- 6a Demi-impulsion Examen 1a Voir phase d'essai 1
tion G1 en m/s2 , visuel
H1 en ms. Résistance 2a ou 2b Voir phase d'essai 3
de contact
AP10 Variations 11d J1 en °C à K1 en °C, Résistance 3a Voir phase d'essai 4
rapides de d'isolement
'il = L1 en min,
température
M1 en cycles,
Tension de 4a Voir phase d'essai 5
connecteurs
tenue
accouplés
Examen la Voir phase d'essai 1
visuel
Connecteurs
AP11 Séquence 11a
climatique accouplés
Résistance 3a Voir phase d'essai 4
AP11.1 Chaleur 11i N1 en °C
d'isolement à
sèche
température
élevée
Examen la Voir phase d'essai 1
AP11.2 Essai 11m P1 en °C;
visuel
cyclique de variante Q1
chaleur
humide,
premier
cycle
AP11.3 Froid 11j R1 en °C Examen la Voir phase d'essai 1
visuel
AP11.4 Basse 11k S1 en kPa Tension de 4a Voir phase d'essai 5
pression t2 = T1 tenue
atmosphé-
rique
1)
Si applicable.
Selon la CEI 512, après la mise en oeuvre des essais AP6, AP7 et AP8, un essai d'étanchéité doit également
être effectué. Il est toutefois prévu que cet essai peut ne pas être applicable aux connecteurs pour cartes
imprimées.
1076-4-001 © IEC:1996
- 87 -
5.2.2.2 Test group AP - Dynamic/climatic (continued)
Table 7 - Test group AP (continued)
Test Test Measurement to be Requirements
phase
performed
Title IEC 512 Severity or Title IEC 512 PL All connector
Test No. condition of test Test No. styles
AP7 Vibration 6d Z in Hz to Al in Hz Contact 2e Duration of
B1 in mm, disturbance disturbance
C1 in m/s2, Y in p.s maximum
Visual
full duration. 1a See test phase 1
Endurance by examination
sweeping D1 Contact 2a or 2b See test phase 3
cycles in each resistance
direction, for
arrangement
see 5.1.2.
AP8 Shock 6c Half-sine, Contact 2e Duration of
disturbance disturbance
El in m/s 2 ,
Y in µs maximum
Fl in ms.
Visual la See test phase 1
examination
Contact 2a or 2b See test phase 3
resistance
1)
See test phase 1
AP9 Acceleration, 6a Half-sine, Visual la
examination
steady state G1 in m/s 2 ,
H1 in ms.
Contact 2a or 2b See test phase 3
resistance
See test phase 4
AP10 Rapid lid .11 in °C to Insulation 3a
change resistance
K1 in °C,
of t1 = L1 minutes, Voltage 4a See test phase 5
temperature M1 cycles, proof
mated connectors
Visual 1 a See test phase 1
examination
AP11 Climatic 11a Mated connectors
sequence
AP11.1 Dry heat 11i N1 in °C; Insulation 3a See test phase 4
resistance
at high
temperature
AP11.2 Damp heat, 11m P1 in °C; Visual 1a See test phase 1
cyclic, examination
variant Q1
first cycle
AP11.3 Cold 11j R1 in °C Visual is See test phase 1
examination
AP11.4 Low air 11k S1 in kPa; Voltage 4a See test phase 5
pressure t2 = T1 proof
1) If applicable.
According to IEC 512, after conducting AP6, AP7 and AP8, a sealing test should be applied as well. It is
assumed, however, that such a test may not be applicable to printed board connectors.

1076-4-001 © IEC:1996 - 89 -
5.2.2.2 Groupe d'essais AP — Essais dynamiques/climatiques (fin)
Groupe d'essais
Tableau 7 — AP (fin)
Exigences
Phase Essai Mesure à effectuer
d'essai Titre Sévérité ou condition Titre CEI 512 NP Tous modèles de
CEI 512
connecteurs
Essai N° d'essai Essai N°
AP11.5 Essai 11m P1 en °C; Résistance 3a Voir phase d'essai 4
cyclique d'isolement
variante Q1
de chaleur
humide, Tension de 4a Voir phase d'essai 5
cycles tenue
restants
Résistance de 1 a Voir phase d'essai 1
contact
AP12.1 Voir phase d'essai 2.1 Forces 13a Voir aussi 4.3.2
d'accouplement
et de désaccou-
plement
ou
AP12.2 Voir phase d'essai 2.2 Forces 13b
d'insertion et
d'extraction
Voir phase d'essai 1
AP13 Examen visuel 1a
5.2.2.3 Groupe d'essais BP — Endurance mécanique
Groupe d'essais BP
Tableau 8 —
Exigences
Essai Mesure à effectuer
Phase
Titre CEI 512 NP Tous modèles de
d'essai Titre CEI 512 Sévérité ou condition
connecteurs
Essai N° d'essai Essai N°
Force de 16e Pour les conditions,
BP1
rétention du voir 3.9.1
calibre Le calibre doit être
retenu
Examen visuel la Voir phase d'essai 1
BP2 Fonction- 9a V1 manoeuvres;
nement vitesse W1 en mm/s
mécanique maximum;
Résistance de 2a ou 2b Voir phase d'essai 3
(moitié du temps de repos X1
contact
nombre de en s
Résistance 3a Voir phase d'essai 4
manoeu-
d'isolement
vres
spécifié)
Tension de 4a Voir phase d'essai 5
tenue
13e
Méthode de Voir 4.3.4
polarisation 1)
1)
Mesure après l'essai BP2, si applicable.

1076-4-001 ©
IEC:1996 - 91 -
5.2.2.2 Test group AP — Dynamic/climatic (concluded)
Table 7 — Test group AP (concluded)
Test Measurement to be Requirements
Test performed
phase Title IEC 512 Severity or Title IEC 512 PL All connector
Test No. condition of test Test No. styles
AP11.5 Damp heat 11m P1 in °C; Insulation 3a See test phase 4
cyclic, resistance
variant 01
remaining Voltage 4a See test phase 5
cycles proof
Contact
1a See test phase 1
resistance
AP12.1 Engaging
See test phase 2.1 13a See also 4.3.2
and
separation
forces
or
AP12.2 See test phase 2.2 Insertion 13b
and
withdrawal
forces
AP13 Visual See test phase 1
la
examination
5.2.2.3 Test group BP — Mechanical endurance
Table 8 — Test group BP
Test Measurement to be Requirements
Test performed
phase Title Severity or Title IEC 512 PL All connector
IEC 512
condition of test Test No. styles
Test No.
BP1 Gauge 16e For conditions,
retention see 3.9.1
force The gauge shall
be retained
BP2 Mechanical 9a V1 operations; Visual 1a See test phase 1
operation speed W1 in mm/s examination
(half of the maximum;
specified rest time X1 in s.
number of
cycles).
Contact 2a or 2b See test phase 3
resistance
Insulation 3a See test phase 4
resistance
Voltage 4a See test phase 5
proof
Polarizing 13e See 4.3.4
method 1)
1) Measurement after BP2, if applicable.

1076-4-001 © IEC:1996 - 93 -
5.2.2.3 Groupe d'essais BP — Endurance mécanique (fin)
Tableau 8 — Groupe d'essais BP (fin)
Phase Essai Mesure à effectuer Exigences
d'essai Titre CEI 512 Sévérité ou condition Titre CEI 512 NP Tous modèles de
Essai N° d'essai Essai N° connecteurs
Essais Résistance 2a ou 2b Voir phase d'essai 3
BP3
de contact
climatiques:
Durée de Y1 heures.
BP3.1 Corrosion, 11f
brouillard
salin
ou
BP3.2 Corrosion, 11g Z1 jours;
moitié accouplés,
atmosphère (à
moitié non accouplés.
industrielle l'étude)
ou
BP3.3 Séquence 11a VoirAP11.
climatique
ou
11c Spécimens câblés;
BP3.4 Essai
Tension de polarisation
continu de
chaleur A2 en V;
humide B2 en jours.
ou
BP3.5 Essai 11m Voir AP11.5
cyclique de
chaleur
humide
ou .
BP3.6 Chaleur 111 Voir AP11.1.
sèche
Voir BP2, mais Examen la Voir phase d'essai 1
BP4 Fonction- 9a
C2 manoeuvres visuel
nement
Résistance 2a ou 2b Voir phase d'essai 3
mécanique
de contact
(moitié
Résistance 3a Voir phase d'essai 4
restante du
d'isoleme
...