IEC 61747-1:1998

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61747-1
INTERNATIONAL
QC 720000
STANDARD
Edition 1.1
2003-05
Edition 1:1998 consolidée par l'amendement 1:2003
Edition 1:1998 consolidated with amendment 1:2003
Dispositifs d'affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 1:
Spécification générique
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 1:
Generic specification
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61747-1:1998+A1:2003
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet (http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables
de faire des recherches en utilisant de nombreux you to search by a variety of criteria including text
critères, comprenant des recherches textuelles, par searches, technical committees and date of
comité d’études ou date de publication. Des publication. On-line information is also available
informations en ligne sont également disponibles sur on recently issued publications, withdrawn and
les nouvelles publications, les publications rempla- replaced publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues This summary of recently issued publications
(http://www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) (http://www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)
est aussi disponible par courrier électronique. is also available by email. Please contact the
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(voir ci-dessous) pour plus d’informations. information.
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clients:
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INTERNATIONALE IEC
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INTERNATIONAL
QC 720000
STANDARD
Edition 1.1
2003-05
Edition 1:1998 consolidée par l'amendement 1:2003
Edition 1:1998 consolidated with amendment 1:2003
Dispositifs d'affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 1:
Spécification générique
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 1:
Generic specification
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CN
Commission Electrotechnique Internationale
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Международная Электротехническая Комиссия
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For price, see current catalogue

– 2 – 61747-1 © CEI:1998+A1:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 6
1 Domaine d’application . 8
2 Références normatives . 8
3 Terminologie.10
3.1 Concepts physiques .10
3.2 Termes généraux.18
3.3 Termes relatifs aux valeurs limites et aux caractéristiques.28
4 Aspects techniques .36
4.1 Ordre de priorité .36
4.2 Terminologie, unités et symboles .36
4.3 Plages préférentielles de température, d’humidité et de pression.42
4.4 Marquage .42
4.4.1 Identification des dispositifs.42
4.4.2 Traçabilité des dispositifs .42
4.4.3 Conditionnement .44
4.5 Catégories de qualité assurée .44
4.6 Sélection.44
4.7 Traitement .44
5 Procédures d’évaluation qualité.46
5.1 Admissibilité à l’homologation .46
5.1.1 Première étape de fabrication.46
5.2 Informations commerciales confidentielles .46
5.3 Constitution des lots de contrôle .46
5.4 Dispositifs à structure similaire.46
5.5 Octroi d’homologation .46
5.6 Contrôle de conformité à la qualité .48
5.6.1 Division en groupes et sous-groupes .48
5.6.2 Prescriptions de contrôle.50
5.6.3 Procédure complémentaire pour contrôle restreint .52
5.6.4 Prescriptions d’échantillonnage pour petits lots.54
5.6.5 Registre certifié des lots acceptés (RCLA).54
5.6.6 Remise de dispositifs soumis à des essais destructifs ou non destructifs .54
5.6.7 Remises différées .54
5.6.8 Procédures complémentaires de remise .54
5.7 Procédures statistiques d’échantillonnage .54
5.7.1 Plans d’échantillonnage NQA .54
5.7.2 Plans d’échantillonnage NQT .54
5.8 Essais d’endurance.54

61747-1 © IEC:1998+A1:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 7
1 Scope . 9
2 Normative references. 9
3 Terminology.11
3.1 Physical concepts .11
3.2 General terms.19
3.3 Terms related to ratings and characteristics .29
4 Technical aspects .37
4.1 Order of precedence .37
4.2 Terminology, units and symbols .37
4.3 Preferred values of temperature, humidity and pressure .43
4.4 Marking .43
4.4.1 Device identification .43
4.4.2 Device traceabillity .43
4.4.3 Packing.45
4.5 Categories of assessed quality.45
4.6 Screening .45
4.7 Handling .45
5 Quality assessment procedures.47
5.1 Eligibility for qualification approval.47
5.1.1 Primary stage of manufacture.47
5.2 Commercially confidential information .47
5.3 Formation of inspection lots .47
5.4 Structurally similar devices.47
5.5 Granting of qualification approval .47
5.6 Quality conformance inspection.49
5.6.1 Division into groups and subgroups .49
5.6.2 Inspection requirements .51
5.6.3 Supplementary procedure for reduced inspection.53
5.6.4 Sampling requirements for small lots .55
5.6.5 Certified records of released lots (CRRL) .55
5.6.6 Delivery of devices subjected to destructive or non-destructive tests.55
5.6.7 Delayed deliveries.55
5.6.8 Supplementary procedure for deliveries.55
5.7 Statistical sampling procedures.55
5.7.1 AQL sampling plans .55
5.7.2 LTPD sampling plans .55
5.8 Endurance tests.55

– 4 – 61747-1 © CEI:1998+A1:2003
5.9 Essais d’endurance avec taux de défaillance spécifié .
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