IEC 61300-3-16:2003

IEC 61300-3-16
Edition 2.0 2003-01
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Fibre optic interconnecting devices and passive components – Basic test and
measurement procedures –
Part 3-16: Examinations and measurements – Endface radius of spherically
polished ferrules
Dispositifs d’interconnexion et composants passifs à fibres optiques –
Procédures fondamentales d’essais et de mesures –
Partie 3-16: Examens et mesures – Rayon de la face terminale des ferrules polies
sphériquement
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by
any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or
IEC's member National Committee in the country of the requester.
If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication,
please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information.

Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite
ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
et les microfilms, sans l'accord écrit de la CEI ou du Comité national de la CEI du pays du demandeur.
Si vous avez des questions sur le copyright de la CEI ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette
publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de la CEI de votre pays de résidence.

IEC Central Office
3, rue de Varembé
CH-1211 Geneva 20
Switzerland
Email: inmail@iec.ch
Web: www.iec.ch
About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.

About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
ƒ Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub
The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…).
It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
ƒ IEC Just Published: www.iec.ch/online_news/justpub
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published details twice a month all new publications released. Available
on-line and also by email.
ƒ Electropedia: www.electropedia.org
The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 20 000 terms and definitions
in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
ƒ Customer Service Centre: www.iec.ch/webstore/custserv
If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please visit the Customer Service
Centre FAQ or contact us:
Email: csc@iec.ch
Tel.: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
A propos de la CEI
La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.

A propos des publications CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possédez
l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié.
ƒ Catalogue des publications de la CEI: www.iec.ch/searchpub/cur_fut-f.htm
Le Catalogue en-ligne de la CEI vous permet d’effectuer des recherches en utilisant différents critères (numéro de référence,
texte, comité d’études,…). Il donne aussi des informations sur les projets et les publications retirées ou remplacées.
ƒ Just Published CEI: www.iec.ch/online_news/justpub
Restez informé sur les nouvelles publications de la CEI. Just Published détaille deux fois par mois les nouvelles
publications parues. Disponible en-ligne et aussi par email.
ƒ Electropedia: www.electropedia.org
Le premier dictionnaire en ligne au monde de termes électroniques et électriques. Il contient plus de 20 000 termes et
définitions en anglais et en français, ainsi que les termes équivalents dans les langues additionnelles. Egalement appelé
Vocabulaire Electrotechnique International en ligne.
ƒ Service Clients: www.iec.ch/webstore/custserv/custserv_entry-f.htm
Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions, visitez le FAQ du
Service clients ou contactez-nous:
Email: csc@iec.ch
Tél.: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
IEC 61300-3-16
Edition 2.0 2003-01
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Fibre optic interconnecting devices and passive components – Basic test and
measurement procedures –
Part 3-16: Examinations and measurements – Endface radius of spherically
polished ferrules
Dispositifs d’interconnexion et composants passifs à fibres optiques –
Procédures fondamentales d’essais et de mesures –
Partie 3-16: Examens et mesures – Rayon de la face terminale des ferrules
polies sphériquement
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
N
CODE PRIX
ICS 33.180.20 ISBN 2-8318-7313-4
– 2 – 61300-3-16 © CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .4

1 Domaine d'application .8
2 Références normatives.8
3 Description générale.8
4 Appareillage.10
4.1 Méthode 1 – Analyse de surface bidimensionnelle.10
4.1.1 Support de ferrule.10
4.1.2 Etage de positionnement.10
4.1.3 Analyseur de surface bidimensionnel.10
4.2 Méthode 2 – Analyse de surface bidimensionnelle par système
d'interférométrie .12
4.2.1 Support de ferrule.12
4.2.2 Etage de positionnement.12
4.2.3 Analyseur bidimensionnel d’interférométrie.12
4.3 Méthode 3 – Analyse de surface tridimensionnelle par système
d'interférométrie .16
4.3.1 Support de ferrule.16
4.3.2 Etage de positionnement.16
4.3.3 Analyse tridimensionnelle d’interférométrie.18
5 Procédure.18
5.1 Régions de mesure .18
5.2 Méthode 1 – Analyse de surface bidimensionnelle.20
5.3 Méthode 2 – Analyse de surface bidimensionnelle par système
d'interférométrie .24
5.4 Méthode 3 – Analyse de surface tridimensionnelle par système
d'interférométrie .24
6 Détails à spécifier.26
6.1 Méthode 1 – Analyse de surface bidimensionnelle.26
6.2 Méthode 2 – Analyse de surface bidimensionnelle par système
d'interférométrie .26
6.3 Méthode 3 – Analyse de surface tridimensionnelle par système
d'interférométrie .26

Figure 1 – Rayon de courbure de la face terminale .8
Figure 2 – Appareillage pour l’analyse de surface bidimensionnelle .10
Figure 3 – Appareillage pour l'analyse de surface bidimensionnelle par système
d'interférométrie.14
Figure 4 – Appareillage pour l'analyse de surface tridimensionnelle par système
d'interférométrie.16
Figure 5 – Face terminale de la ferrule et régions de mesure.20
Figure 6 – Mesures pour le calcul du rayon de courbure par la méthode 1 .22
Figure 7 – Mesures pour le calcul du rayon de courbure .24

61300-3-16 © IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5

1 Scope.9
2 Normative references.9
3 General description.9
4 Apparatus.11
4.1 Method 1 – Two-dimensional surface analysis .11
4.1.1 Ferrule holder.11
4.1.2 Positioning stage.11
4.1.3 Two-dimensional surface analyzer .11
4.2 Method 2 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system.13
4.2.1 Ferrule holder.13
4.2.2 Positioning stage.13
4.2.3 Two-dimensional interferometry analyzer.13
4.3 Method 3 – Three-dimensional surface analysis by interferometry system .17
4.3.1 Ferrule holder.17
4.3.2 Positioning stage.17
4.3.3 Three-dimensional interferometry analyzer .19
5 Procedure.19
5.1 Measurement region.19
5.2 Method 1 – Two-dimensional surface analysis .21
5.3 Method 2 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system.25
5.4 Method 3 – Three dimensional surface analysis by interferometry system .25
6 Details to be specified .27
6.1 Method 1 – Two-dimensional surface analysis .27
6.2 Method 2 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system.27
6.3 Method 3 – Three-dimensional surface analysis by interferometry system .27

Figure 1 – Radius of curvature of the endface.9
Figure 2 – Apparatus for two-dimensional surface analysis .11
Figure 3 – Apparatus for two-dimensional surface analysis by interferometry system .15
Figure 4 – Apparatus for three-dimensional surface analysis by interferometry system .17
Figure 5 – Ferrule endface and measurement regions.21
Figure 6 – Measurements for calculating the radius of curvature with method 1 .23
Figure 7 – Measurements for calculating the radius of curvature.25

– 4 – 61300-3-16 © CEI:2003
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
DISPOSITIFS D'INTERCONNEXION
ET COMPOSANTS PASSIFS À FIBRES OPTIQUES –
MÉTHODES FONDAMENTALES D'ESSAIS ET DE MESURES –

Partie 3-16: Examens et mesures –
Rayon de la face terminale des ferrules polies sphériquement

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61300-3-16 a été établie par le sous-comité 86B: Dispositifs
d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques, du comité d'études 86 de la CEI:
Fibres optiques.
Cette deuxième édition de la CEI 61300-3-16 annule et remplace la première édition publiée
en 1995. Elle constitue une révision technique.
Cette version bilingue, publiée en 2004-01, correspond à la version anglaise.

61300-3-16 © IEC:2003 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
FIBRE OPTIC INTERCONNECTING DEVICES
AND PASSIVE COMPONENTS –
BASIC TEST AND MEASUREMENT PROCEDURES –

Part 3-16: Examinations and measurements –
Endface radius of spherically polished ferrules

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61300-3-16 has been prepared by subcommittee 86B: Fibre optic
interconnecting devices and passive components, of IEC technical committee 86: Fibre optics.
This second edition of IEC 61300-3-16 cancels and replaces the first edition published in
1995. It constitutes a technical revision.
This bilingual version, published in 2004-01, corresponds to the English version.

– 6 – 61300-3-16 © CEI:2003
Le texte anglais de cette norme est basé sur les documents 86B/1746/FDIS et 86B/1772/RVD.
Le rapport de vote 86B/1772/RVD donne toute information sur le vote ayant abouti à
l’approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
La CEI 61300 comprend les parties suivantes, regroupées sous le titre général Dispositifs
d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques – Méthodes fondamentales d'essais
et de mesures
− Partie 1: Généralités et lignes directrices
− Partie 2: Essais
− Partie 3: Examens et mesures
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2007.
A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
La version française de cette norme n'a pas été soumise au vote.

61300-3-16 © IEC:2003 – 7 –
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
86B/1746/FDIS 86B/1772/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
IEC 61300 consists of the following parts, under the general title Fibre optic interconnecting
devices and passive components – Basic test and measurement procedures:
− Part 1: General and guidance
− Part 2: Tests
− Part 3: Examinations and measurements
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged
until 2007. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
The French version of this standard has not been voted upon.

– 8 – 61300-3-16 © CEI:2003
DISPOSITIFS D'INTERCONNEXION
ET COMPOSANTS PASSIFS À FIBRES OPTIQUES –
MÉTHODES FONDAMENTALES D'ESSAIS ET DE MESURES –

Partie 3-16: Examens et mesures –
Rayon de la face terminale des ferrules polies sphériquement

1 Domaine d'application
La présente partie de la CEI 61300 décrit une procédure pour mesurer le rayon de la face
terminale d’une ferrule polie sphériquement et d’une ferrule angulaire ou d’une ferrule
angulaire polie sphériquement.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références
non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
Aucune.
3 Description générale
Le rayon R de la face terminale de la ferrule est défini comme le rayon de la courbure de la
portion de la face terminale qui est bombée pour le contact physique. On suppose que la face
terminale est sphérique, bien qu'en pratique la face terminale est souvent asphérique (voir la
Figure 1).
R
IEC  2657/02
Figure 1 – Rayon de courbure de la face terminale
Trois méthodes sont décrites dans la présente norme pour la mesure du rayon de courbure:
a) méthode 1: analyser la face terminale avec un analyseur de surface bidimensionnel;
b) méthode 2: analyser la face terminale avec un analyseur de surface bidimensionnel de
type interférométrie;
c) méthode 3: analyser la face terminale avec un analyseur de surface tridimensionnel de
type interférométrie .
(La méthode 3 est une méthode de référence.)

61300-3-16 © IEC:2003 – 9 –
FIBRE OPTIC INTERCONNECTING DEVICES
AND PASSIVE COMPONENTS –
BASIC TEST AND MEASUREMENT PROCEDURES –

Part 3-16: Examinations and measurements –
Endface radius of spherically polished ferrules

1 Scope
This part of IEC 61300 describes a procedure to measure the endface radius of a spherically
polished ferrule and angled ferrule or an angled spherically polished ferrule.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document.
For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition
of the referenced document (including any amendments) applies.
None.
3 General description
The ferrule endface radius R is defined as the radius of curvature of the portion of the endface
which is domed for physical contact. It is assumed that the endface is spherical, although in
practice the endface is often aspherical (see Figure 1).
R
IEC  2657/02
Figure 1 – Radius of curvatu
...