IEC 61300-3-23:1998

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61300-3-23
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1998-04
Dispositifs d’interconnexion et composants
passifs à fibres optiques –
Méthodes fondamentales d’essais et de mesures –
Partie 3-23:
Examens et mesures –
Position de la fibre par rapport à l'extrémité
de l'embout
Fibre optic interconnecting devices
and passive components –
Basic test and measurement procedures –
Part 3-23:
Examination and measurements –
Fibre position relative to ferrule endface
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61300-3-23:1998
Numéros des publications Numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are issued
sont numérotées à partir de 60000. with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication incorporating
publication de base incorporant l’amendement 1, et la amendment 1 and the base publication incorporating
publication de base incorporant les amendements 1 amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de reconfirmation Information relating to the date of the reconfirmation of
de la publication sont disponibles dans le Catalogue de the publication is available in the IEC catalogue.
la CEI.
Les renseignements relatifs à des questions à l’étude et Information on the subjects under consideration and
des travaux en cours entrepris par le comité technique work in progress undertaken by the technical
qui a établi cette publication, ainsi que la liste des committee which has prepared this publication, as well
publications établies, se trouvent dans les documents ci- as the list of publications issued, is to be found at the
dessous: following IEC sources:
• «Site web» de la CEI* • IEC web site*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Catalogue en ligne)* (On-line catalogue)*
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
Disponible à la fois au «site web» de la CEI* et Available both at the IEC web site* and as a
comme périodique imprimé printed periodical
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et For graphical symbols, and letter symbols and signs
les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et symbols for use on equipment. Index, survey and
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61300-3-23
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1998-04
Dispositifs d’interconnexion et composants
passifs à fibres optiques –
Méthodes fondamentales d’essais et de mesures –
Partie 3-23:
Examens et mesures –
Position de la fibre par rapport à l'extrémité
de l'embout
Fibre optic interconnecting devices
and passive components –
Basic test and measurement procedures –
Part 3-23:
Examinations and measurements –
Fibre position relative to ferrule endface
 IEC 1998 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
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copie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
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– 2 – 61300-3-23 © CEI:1998
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
Articles
1 Généralités. 6
1.1 Domaine d'application et objet. 6
1.2 Description générale . 6
2 Appareillage. 8
2.1 Méthode 1 – Analyse de surface deux dimensions. 8
2.2 Méthode 2 – Analyse de surface trois dimensions par système interférométrique 10
2.3 Méthode 3 – Analyse de surface deux dimensions par système interférométrique 12
3 Procédure. 16
3.1 Régions de mesure. 16
3.2 Méthode 1 – Analyse de surface deux dimensions. 18
3.3 Méthode 2 – Analyse de surface trois dimensions par système interférométrique 22
3.4 Méthode 3 – Analyse de surface deux dimensions par système interférométrique 26
4 Détails à spécifier. 30
4.1 Méthode 1 – Analyse de surface deux dimensions. 30
4.2 Méthode 2 – Analyse de surface trois dimensions par système interférométrique 30
4.3 Méthode 3 – Analyse de surface deux dimensions par système interférométrique 30
Figures
1 Enfoncement et protubérance de la fibre d'une extrémité d'embout polie de manière
sphérique. 6
2 Appareillage pour analyse de surface deux dimensions . 8
3 Appareillage pour analyse de surface trois dimensions par système interférométrique 12
4 Appareillage pour analyse de surface deux dimensions par système interférométrique 14
5 Extrémité de l'embout et régions de mesure . 16
6 Profil converti de l'extrémité de l'embout. 20
7 Types de profils convertis de l'extrémité de l'embout. 20
8 Surface de l'extrémité de l'embout. 24
9 Région de placement et région de moyenne de la surface de l'extrémité de l'embout . 24
10 Surface convertie de toute l'extrémité de l'embout (voir figure 8). 24
11 Surface convertie de l'extrémité de l'embout sans la région d’extraction (voir figure 9) 26
12 Image interférométrique du microscope et courbe lumineuse d'intensité acquise
pour la ligne choisie avec la fonction théorique de placement . 28
A.1 Profil d’embout acquis et profil rectifié . 34
Annexe A (informative) – Evaluation de l'enfoncement ou de la protubérance. 32

61300-3-23 © IEC:1998 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5
Clause
1 General. 7
1.1 Scope and object . 7
1.2 General description. 7
2 Apparatus. 9
2.1 Method 1 – Two-dimensional surface analysis . 9
2.2 Method 2 – Three-dimensional surface analysis by interferometry system. 11
2.3 Method 3 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system . 13
3 Procedure. 17
3.1 Measurement regions. 17
3.2 Method 1 – Two-dimensional surface analysis . 19
3.3 Method 2 – Three-dimensional surface analysis by interferometry system. 23
3.4 Method 3 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system . 27
4 Details to be specified . 31
4.1 Method 1 – Two-dimensional surface analysis . 31
4.2 Method 2 – Three-dimensional interferometry analysis . 31
4.3 Method 3 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system . 31
Figures
1 Fibre undercut and protrusion of spherically polished ferrule endface. 7
2 Apparatus for two-dimensional surface analysis. 9
3 Apparatus for three-dimensional surface analysis by interferometry system. 13
4 Apparatus for two-dimensional surface analysis by interferometry system . 15
5 Ferrule endface and measurement regions . 17
6 Converted ferrule endface profile. 21
7 Types of converted ferrule endface profile . 21
8 Ferrule endface surface . 25
9 Fitting region and averaging region of the ferrule endface surface. 25
10 Converted endface surface of the global ferrule (see figure 8) . 25
11 Converted ferrule endface surface subtracting the extracting region (see figure 9) . 27
12 Interferometry image from the microscope and the acquired intensity light
curve relevant to the selected row with the fitting theoretical function . 29
A.1 Acquired ferrule profile and rectified profile. 35
Annex A (informative) – Undercut or protrusion evaluation . 33

– 4 – 61300-3-23 © CEI:1998
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
–––––––––
DISPOSITIFS D'INTERCONNEXION ET COMPOSANTS PASSIFS
À FIBRES OPTIQUES –
MÉTHODES FONDAMENTALES D'ESSAIS ET DE MESURES –
Partie 3-23: Examens et mesures –
Position de la fibre par rapport à l'extrémité de l'embout
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61300-3-23 a été établie par le sous-comité 86B: Dispositifs
d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques, du comité d'études 86 de la CEI:
Fibres optiques.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
86B/1056/FDIS 86B/1083/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
L’annexe A est donnée uniquement à titre d’information.
La CEI 61300 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général de Dispositifs
d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques – Méthodes fondamentales d'essais
et de mesures:
Partie 1: Généralités et guide
Partie 2: Essais
Partie 3: Examens et mesures
61300-3-23 © IEC:1998 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
––––––––
FIBRE OPTIC INTERCONNECTING DEVICES AND
PASSIVE COMPONENTS –
BASIC TEST AND MEASUREMENT PROCEDURES –
Part 3-23: Examination and measurements –
Fibre position relative to ferrule endface
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61300-3-23 has been prepared by subcommittee 86B: Fibre optic
interconnecting devices and passive components, of IEC technical committee 86: Fibre optics.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
86B/1056/FDIS 86B/1083/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
Annex A is for information only.
IEC 61300 consists of the following parts, under the general title Fibre optic interconnecting
devices and passive components – Basic test and measurement procedures:
Part 1: General and guidance
Part 2: Tests
Part 3: Examination and measurements

– 6 – 61300-3-23 © CEI:1998
DISPOSITIFS D'INTERCONNEXION ET COMPOSANTS PASSIFS
À FIBRES OPTIQUES –
MÉTHODES FONDAMENTALES D'ESSAIS ET DE MESURES –
Partie 3-23: Examens et mesures –
Position de la fibre par rapport à l'extrémité de l'embout
1 Généralités
1.1 Domaine d'application et objet
La méthode exposée dans la présente partie de la CEI 61300 est destinée à mesurer la
position de la fibre par rapport à une extrémité d'embout polie de manière sphérique, position
qui correspond à un enfoncement ou à une protubérance de la fibre.
1.2 Description générale
L'enfoncement +w ou la protubérance –w de la fibre d'un embout poli de manière sphérique
sont définis comme étant la distance moyenne entre l'extrémité de la fibre et une surface
sphérique virtuelle placée sur l'extrémité de l'embout polie de manière sphérique. On considère
que la zone circulaire de l'extrémité d'un embout, qui est centrée par rapport à l'axe de
l'embout, est sphérique, bien qu'en pratique l'extrémité soit souvent asphérique.
Surface sphérique virtuelle
Surface de l’extrémité
de la fibre
Surface de l’extrémité de
w
l’embout polie de manière
sphérique
Embout Fibre Adhésif
IEC  502/98
Figure 1a - Enfoncement de la fibre +w
−w
IEC  503/98
Figure 1b - Protubérance de la fibre −w
Figure 1 – Enfoncement et protubérance de la fibre d'une extrémité d'embout
polie de manière sphérique
61300-3-23 © IEC:1998 – 7 –
FIBRE OPTIC INTERCONNECTING DEVICES AND
PASSIVE COMPONENTS –
BASIC TEST AND MEASUREMENT PROCEDURES –
Part 3-23: Examination and measurements –
Fibre position relative to ferrule endface
1 General
1.1 Scope and object
The purpose of the procedure described this part of IEC 61300 is to measure the fibre position
relative to the ferrule endface of a spherically polished ferrule, that is a fibre undercut or a fibre
protrusion.
1.2 General description
The fibre undercut +w or protrusion –w of a spherically polished ferrule is defined as the
average distance between a fibre endface and a virtual spherical surface which is fitted to the
spherically polished ferrule endface. It is assumed that a circle region of the ferrule endface,
which is centred to the ferrule axis, is spherical, although in practice the endface is often
aspherical.
Virtual spherical surface
Fibre endface
Spherically polished
w
ferrule endface
Ferrule Fibre Adhesive
IEC  502/98
Figure 1a - Fibre undercut +w
−w
IEC  503/98
Figure 1b - Fibre protrusion −w
Figure 1 – Fibre undercut and protrusion of spherically polished ferrule endface

– 8 – 61300-3-23 © CEI:1998
Trois méthodes pour mesurer l'enfoncement ou la protubérance de la fibre sont décrites dans
la présente norme:
a) méthode 1:analyse de la surface de l'extrémité avec un analyseur de surface deux
dimensions;
b) méthode 2: analyse de la surface de l'extrémité avec un analyseur de surface trois
dimensions de type interférométrique;
c) méthode 3:analyse de la surface de l'extrémité avec un analyseur de surface deux
dimensions de type interférométrique.
La méthode 1 est la méthode de référence.
2 Appareillage
2.1 Méthode 1 – Analyse de surface deux dimensions
L’appareillage nécessaire pour cette méthode, qui comprend un porte-embout adapté, une platine
de positionnement et un analyseur de surface deux dimensions, est représenté à la figure 2.
2.1.1 Porte-embout
Le porte-embout est un dispositif adapté servant à maintenir l'embout dans une position fixe
verticale ou, dans le cas d'un type d'embout avec angle, dans une position inclinée.
2.1.2 Platine de positionnement
Le porte-embout est fixé à la platine de positionnement, qui doit permettre le déplacement du
porte-embout à la position appropriée. La platine doit être d'une rigidité suffisante pour que
l'extrémité de l'embout soit mesurée avec une précision de quelques nanomètres.
Analyseur de surface deux dimensions
Profilomètre
Capteur
Extrémité de l’embout
Porte-embout
Embout
Unité de traitement
des données de profil
Moniteur
Platine de positionnement
IEC  504/98
Figure 2 – Appareillage pour analyse de surface deux dimensions

61300-3-23 © IEC:1998 – 9 –
Three methods are described in this standard for measuring the fibre undercut or protrusion:
a) method 1: analyzing the endface with a two-dimensional surface analyzer;
b) method 2: analyzing the endface with a three-dimensional interferometry type surface
analyzer;
c) method 3: analyzing the endface with a two-dimensional interferometry type surface
analyzer.
Method 1 is the reference method.
2 Apparatus
2.1 Method 1 – Two-dimensional surface analysis
The apparatus shown in figure 2 consists of a suitable ferrule holder, a positioning stage and a
two-dimensional surface analyzer.
2.1.1 Ferrule holder
The ferrule holder is a suitable device to hold the ferrule in a fixed vertical position, or in a tilted
position in the case of an angled ferrule type.
2.1.2 Positioning stage
The ferrule holder is fixed to the positioning stage, which shall enable the holder to be moved
to the appropriate position. The stage shall have enough rigidity so as to measure the ferrule
endface with a precision of some nanometres.
Two-dimensional surface analyzer
Profilometer
Probe
Ferrule endface
Ferrule holder
Ferrule
Profile data
processing unit
Monitor
Positioning stage
IEC  504/98
Figure 2 – Apparatus for two-dimensional surface analysis

– 10 – 61300-3-23 © CEI:1998
2.1.3 Analyseur de surface deux dimensions
L'analyseur de surface deux dimensions doit permettre de mesurer le profil de l'extrémité de
l'embout avec une précision supérieure à ±10 nm. L'analyseur doit comprendre un profilomètre,
une unité de traitement des données de profil et un moniteur.
Le profilomètre doit être équipé d'un capteur de type à coin monté de telle manière que le
mouvement du tracé soit perpendiculaire à l'axe de l'embout.
L'unité de traitement des données de profil doit permettre le traitement des données de profil
de manière à mesurer l'enfoncement ou la protubérance de la fibre: l'unité calcule un cercle
idéal placé sur l'extrémité de l'embout sphérique à partir des données de profil mesurées et
calcule des données converties à partir des données de profil mesurées en extrayant les
données du cercle idéal.
Le moniteur doit afficher les profils mesurés et calculés.
2.2 Méthode 2 – Analyse de surface trois dimensions par système interférométrique
L’appareillage nécessaire pour cette méthode, qui comprend un porte-embout adapté, une
platine de positionnement et un analyseur interférométrique trois dimensions, est représenté à
la figure 3.
2.2.1 Porte-embout
Le porte-embout est un dispositif adapté servant à maintenir l'embout dans une position fixe
verticale ou, dans le cas d'un type d'embout avec angle, dans une position inclinée.
2.2.2 Platine de positionnement
Le porte-embout est fixé à la platine de positionnement, qui doit permettre le déplacement du
porte-embout à la position appropriée. La platine doit être d'une rigidité suffisante pour que
l'extrémité de l'embout soit mesurée avec une précision de quelques nanomètres.
2.2.3 Analyseur interférométrique trois dimensions
L'analyseur interférométrique trois dimensions doit permettre de mesurer la surface de
l'extrémité de l'embout avec une précision supérieure à ±10 nm. L'analyseur doit comprendre
un ensemble microscope, une unité de traitement des données de surface et un moniteur.
L'ensemble microscope doit comprendre un microscope interférentiel, un régulateur et un
dispositif à balayage d'image. Le microscope interférentiel équipé d'un objectif est monté de
manière que son mouvement soit parallèle à l'axe de l'embout. Le régulateur déplace l'objectif
verticalement. Le dispositif à balayage d'image convertit les signaux d'image d'interférence en
données de position.
L'unité de traitement des données de surface doit permettre le traitement des données de
position de manière à mesurer l'enfoncement ou la protubérance de la fibre: l'unité calcule une
surface sphérique idéale placée sur l'extrémité de l'embout sphérique à partir des données de
surface mesurées et calcule des données de surface converties à partir des données de
surface mesurées en extrayant les données de surface sphérique idéale. L'unité est également
en mesure de corriger les données de surface en tenant compte de la différence des indices
de réfraction et des coefficients d'absorption de la fibre et de l'embout.
Le moniteur doit afficher les profils de surface trois dimensions mesurés et calculés.

61300-3-23 © IEC:1998 – 11 –
2.1.3 Two-dimensional surface analyzer
The two-dimensional surface analyzer shall have an ability to measure the profile of the ferrule
endface with an accuracy better than ±10 nm. The analyzer shall consist of a profilometer, a
profile data processing unit and a monitor.
The profilometer shall be equipped with a wedge type probe arranged so that the motion of the
trace is perpendicular to the ferrule axis.
The profile data processing unit shall be able to process the profile data so as to measure the
fibre undercut or protrusion: the unit calculates an ideal circle fitted to the spherical ferrule
endface from the measured profile data and calculates converted data from the measured
profile data by extracting the ideal circle data.
The monitor shall display the measured and calculated profiles.
2.2 Method 2 – Three-dimensional surface analysis by interferometry system
The apparatus shown in figure 3 consists of a suitable ferrule holder, a positioning stage and a
three-dimensional interferometry analyzer.
2.2.1 Ferrule holder
The ferrule holder is a suitable device to hold the ferrule in a fixed vertical position, or in a tilted
position in the case of an angled ferrule type.
2.2.2 Positioning stage
The ferrule holder is fixed to the positioning stage, which shall enable the holder to be moved
to the appropriate position. The stage shall have enough rigidity so as to measure the ferrule
endface with a precision of some nanometres.
2.2.3 Three-dimensional interferometry analyzer
The three-dimensional interferometry analyzer shall have an ability to measure the surface of
the ferrule endface with an accuracy better than ±10 nm. The analyzer shall consist of a
microscope unit, a surface data processing unit, and a monitor.
The microscope unit shall consist of an interference microscope, an actuator, and an image
scanner. The interference microscope equipped with an objective is arranged so that its motion
is parallel to the axis of the ferrule. The actuator transports the objective vertically. The image
scanner converts interference image signals into position data.
The surface data processing unit shall be able to process the position data so as to measure
the fibre undercut or protrusion: the unit calculates an ideal spherical surface fitted to the
spherical ferrule endface from the measured surface data and calculates converted surface
data from the measured surface data by extracting the ideal spherical surface data. The unit
also has an ability to correct the surface data taking into account the difference in refractive
indices and absorption coefficients of the fibre and the ferrule.
The monitor shall display the measured and calculated three-dimensional surface profiles.

– 12 – 61300-3-23 © CEI:1998
Analyseur interférométrique trois dimensions
Ensemble du
microscope
Microscope
interférentiel
Unité de traitement des
données de surface
Régulateur
Objectif
Moniteur
Extrémité de l’embout
Porte-embout
Embout
Platine de positionnement
IEC  505/98
Figure 3 – Appareillage pour analyse de surface trois dimensions par système interférométrique
2.3 Méthode 3 – Analyse de surface deux dimensions par système interférométrique
L’appareillage nécessaire pour cette méthode, qui comprend un porte-embout adapté, une
platine de positionnement et un analyseur interférométrique deux dimensions, est représenté à
la figure 4.
2.3.1 Porte-embout
Le porte-embout est un dispositif adapté servant à maintenir l'embout dans une position fixe
verticale ou, dans le cas d'un type d'embout avec angle, dans une position inclinée.
2.3.2 Platine de positionnement
Le porte-embout est fixé à la platine de positionnement, qui doit permettre le déplacement du
porte-embout à la position appropriée. La platine doit être d'une rigidité suffisante pour que
l'extrémité de l'embout soit mesurée avec une précision de quelques nanomètres.

61300-3-23 © IEC:1998 – 13 –
Three-dimensional interferometry analyzer
Microscope unit
Interference
microscope
Surface data
processing unit
Actuator
Objective
Monitor
Ferrule endface
Ferrule holder
Ferrule
Positioning stage
IEC  505/98
Figure 3 – Apparatus for three-dimensional surface analysis by interferometry system
2.3 Method 3 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system
The apparatus shown in figure 4 consists of a suitable ferrule holder, a positioning stage, and a
two-dimensional interferometry analyzer.
2.3.1 Ferrule holder
The ferrule holder is a suitable device to hold the ferrule in a fixed vertical position, or in a tilted
position in the case of an angled ferrule type.
2.3.2 Positioning stage
The ferrule holder is fixed to the positioning stage, which shall enable the holder to be moved
to the appropriate position. The stage shall have enough rigidity so as to measure the ferrule
endface with a precision of some nanometres.

– 14 – 61300-3-23 © CEI:1998
2.3.3 Analyseur interférométrique deux dimensions
L'analyseur interférométrique deux dimensions doit permettre de mesurer le profil de
l'extrémité de l'embout avec une précision supérieure à ±10 nm. L'analyseur doit comprendre
un ensemble microscope avec une source de lumière monochromatique, une un
...