IEC 61290-5-2:2003

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61290-5-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-10
Amplificateurs optiques –
Méthodes d'essai –
Partie 5-2:
Paramètres du facteur de réflexion –
Méthode de l'analyseur de spectre électrique
Optical amplifiers –
Test methods –
Part 5-2:
Reflectance parameters –
Electrical spectrum analyser method
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61290-5-2:2003
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a
recherches en utilisant de nombreux critères, variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
publications, les publications remplacées ou retirées, publications, as well as corrigenda.
ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available
nible par courrier électronique. Veuillez prendre by email. Please contact the Customer Service
contact avec le Service client (voir ci-dessous) Centre (see below) for further information.
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61290-5-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-10
Amplificateurs optiques –
Méthodes d'essai –
Partie 5-2:
Paramètres du facteur de réflexion –
Méthode de l'analyseur de spectre électrique
Optical amplifiers –
Test methods –
Part 5-2:
Reflectance parameters –
Electrical spectrum analyser method
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N
Commission Electrotechnique Internationale PRICE CODE
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Международная Электротехническая Комиссия
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– 2 – 61290-5-2  CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 4
1 Domaine d'application et objet. 8
2 Références normatives . 8
3 Abréviations. 8
4 Appareillage.10
5 Echantillon d'essai .14
6 Procédure .14
6.1 Facteur de réflexion d'entrée.14
6.1.1 Généralités .14
6.1.2 Etalonnage.16
6.1.3 Mesure du facteur de réflexion d'entrée de l'AFO.20
6.2 Facteur de réflexion de sortie.20
6.2.1 Généralités .20
6.2.2 Etalonnage.22
6.2.3 Mesure du facteur de réflexion de sortie de l'AFO.24
7 Calcul .26
8 Résultats d’essai.26
Bibliographie .28
Figure 1 – Configurations pour méthodes de mesure de l’analyseur de spectre
électrique pour facteur de réflexion d'AFO .10
Figure 2 – Configurations pour déterminer la mesure de la perte d'insertion
du contrôleur de polarisation, du coupleur optique et de l'isolateur optique.16
Figure 3 – Mesure de la puissance d'entrée de l'AFO.18
Figure 4 – Mesure du facteur de réflexion inhérent du montage d'essai.18
Figure 5 – Mesure de la perte du coupleur optique.20
Figure 6 – Mesure de la puissance de la sonde d'entrée .22
Figure 7 – Mesure du facteur de réflexion inhérent du montage d'essai.24
Figure 8 – Mesure de la puissance du signal d'entrée de l'AFO .24

61290-5-2  IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5
1 Scope and object . 9
2 Normative references. 9
3 Abbreviated terms. 9
4 Apparatus .11
5 Test sample .15
6 Procedure .15
6.1 Input reflectance .15
6.1.1 General.15
6.1.2 Calibration .17
6.1.3 OFA input reflectance measurement.21
6.2 Output reflectance .21
6.2.1 General.21
6.2.2 Calibration .23
6.2.3 OFA output reflectance measurement.25
7 Calculation.27
8 Test results.27
Bibliography .29
Figure 1 – Configurations for electrical spectrum analyser measurement methods
for OFA reflectance .11
Figure 2 – Configurations for determining polarization controller, optical branching
device and optical isolator insertion loss measurement .17
Figure 3 – Measurement of OFA input power .19
Figure 4 – Measurement of inherent reflectance of test set-up .19
Figure 5 – Measurement of the loss of the optical branching device .21
Figure 6 – Measurement of input probe power .23
Figure 7 – Measurement of the inherent reflectance of the test set-up.25
Figure 8 – Measurement OFA input signal power .25

– 4 – 61290-5-2  CEI:2003
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
AMPLIFICATEURS OPTIQUES – MÉTHODES D’ESSAI –
Partie 5-2: Paramètres du facteur de réflexion –
Méthode de l’analyseur de spectre électrique
AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études,
aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux
travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes d
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