ISO 8769:2020

NORME ISO
INTERNATIONALE 8769
Quatrième édition
2020-06
Mesurage de la radioactivité —
Radionucléides émetteurs alpha,
bêta et photoniques — Spécifications
des étalons de référence pour
l'étalonnage des contrôleurs de
contamination de surface
Measurement of radioactivity — Alpha-, beta- and photon emitting
radionuclides — Reference measurement standard specifications for
the calibration of surface contamination monitors
Numéro de référence
ISO 8769:2020(F)
©
ISO 2020

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Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Traçabilité des étalons de référence. 3
5 Spécification des étalons de référence . 4
5.1 Généralités . 4
5.2 Étalons de référence de Catégorie 1 . 5
5.2.1 Exigences générales . 5
5.2.2 Activité et taux d’émission surfacique . 6
5.2.3 Uniformité. 7
5.2.4 Radionucléides . 7
5.3 Étalons de référence de Catégorie 2 . 9
5.3.1 Exigences générales . 9
5.3.2 Activité et taux d’émission surfacique . 9
5.3.3 Uniformité. 9
5.3.4 Radionucléides . 9
5.4 Étalon de travail .10
5.4.1 Exigences générales .10
5.4.2 Activité et taux d’émission surfacique .10
5.4.3 Uniformité.10
5.4.4 Radionucléides .10
6 Dispositifs de transfert .10
6.1 Dispositif de transfert pour le rayonnement alpha et le rayonnement bêta .10
6.2 Dispositif de transfert pour le rayonnement photonique .11
6.3 Étalonnage .11
Annexe A (informative) Considérations particulières relatives aux étalons de référence
émetteurs d’électrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et de photons d’énergie
inférieure à 1,5 MeV .12
Bibliographie .14
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Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/ directives).
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l’élaboration du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l’ISO (voir www .iso .org/ brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la signification des termes et expressions spécifiques de l’ISO liés à l’évaluation
de la conformité, ou pour toute information au sujet de l’adhésion de l’ISO aux principes de l’OMC
concernant les obstacles techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: www .iso .org/ iso/ fr/
foreword .html.
Le comité chargé de l’élaboration du présent document est l’ISO/TC 85, Énergie nucléaire, technologies
nucléaires, et radioprotection, sous-comité SC 2, Radioprotection.
Cette quatrième édition annule et remplace la troisième édition (ISO 8769:2016), qui a fait l’objet d’une
révision technique. Les modifications par rapport à l’édition précédente sont les suivantes:
— adoption des termes «étalon de référence», «étalon de travail» et «dispositif de transfert»
respectivement en lieu et place des termes «source de référence», «source de travail» et «instrument
de transfert» afin d’assurer la cohérence avec les termes décrits dans le Vocabulaire international
[16]
de métrologie ou l’ISO/IEC 17025 ;
— 5.1 b): modification de «une couche de surface d’épaisseur égale à l’épaisseur de couche à saturation»
en «une couche de surface d’épaisseur inférieure ou égale à l’épaisseur de couche à saturation»;
— 5.2.3 et 5.3.3: suppression de l’énoncé «moins son incertitude-type relative»;
— 5.4.3: ajout de l’exigence d’un nouveau mesurage de l’uniformité comme suit: «Si un changement
significatif non imputable à la période est constaté lors du réétalonnage du taux d’émission
surfacique, un nouveau mesurage de l’uniformité est nécessaire».
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/ fr/ members .html.
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ISO 8769:2020(F)

Introduction
La contamination radioactive des surfaces peut résulter d’écoulements, d’éclaboussures ou de fuites de
sources non scellées, ou encore de la rupture ou perte d’intégrité de sources scellées. Elle peut donner
lieu à la propagation de la contamination, à la perte de contrôle de la qualité et peut présenter les risques
suivants pour la santé:
a) exposition externe de parties du corps à proximité de la surface contaminée;
b) exposition interne par l’incorporation de matières radioactives émanant de la surface.
La nécessité d’une surveillance efficace de la contamination de surface est reconnue depuis longtemps;
voir la Référence [1]. La contamination de surface est quantifiée en termes d’activité surfacique.
Cette grandeur est normalement utilisée pour spécifier des «limites dérivées», c’est-à-dire les limites
maximales de contamination de surface. Ces limites sont fondées sur des considérations liées à la
protection radiologique et ont été déduites des valeurs limites d’équivalent de dose ou d’incorporation,
telles que les recommande la Commission internationale de protection radiologique (CIPR); voir les
Références [2] et [3]. Les limites dérivées figurent dans de nombreux textes réglementaires nationaux
et internationaux qui se rapportent spécifiquement à la surveillance de la contamination des surfaces.
Le présent document est né du besoin d’étalons de référence dans les Normes internationales traitant
de l’étalonnage des contrôleurs de contamination de surface.
Alors que les textes réglementaires se réfèrent à la contamination de surface en termes d’activité
surfacique, la réponse des instruments de surveillance est directement liée au rayonnement émis
par la surface, plutôt qu’à l’activité superficielle ou interne de la surface. Compte tenu des variations
des propriétés d’absorption et de diffusion des surfaces réelles, il ne peut être supposé qu’il existe
généralement une relation simple et connue entre le taux d’émission surfacique et l’activité. Le besoin
d’étalons de référence spécifiés principalement en termes de taux d’émission surfacique, mais aussi
d’activité, est donc patent. La manière dont ces étalons sont utilisés et les protocoles d’étalonnage
[4]
associés varient d’un pays à l’autre .
L’étalonnage d’un instrument en termes d’activité pour les types de surfaces habituellement rencontrées
dans les situations de surveillance dépend des considérations suivantes:
— le mélange et les rapports des radionucléides surveillés;
— leurs types et les abondances des émissions;
— la nature de la surface;
— les profondeurs et les profils de distribution au sein de la surface;
— la dépendance de la fenêtre d’entrée de l’instrument vis-à-vis de l’atténuation spectrale;
— la distance entre la fenêtre d’entrée de l’instrument et la surface.
La déduction des facteurs d’étalonnage appropriés en termes d’activité est donc un processus très
complexe qui ne relève pas du domaine d’application du présent document. L’ISO 7503 (toutes les
[5]
parties) fournit des recommandations appropriées relatives à ce processus. Toutefois, une certaine
estimation de l’activité de l’étalon de référence est nécessaire à des fins de sécurité radiologique en
général, telles que la manipulation, les essais d’étanchéité, le blindage, le conditionnement et le
transport. Il s’agit d’une question générique qui concerne toutes les sources radioactives quel que soit
leur usage prévu et qui n’est pas donc pas traitée de manière spécifique dans le présent document.
Un système de dispositif de transfert de référence permet la traçabilité des étalons de référence aux
étalons nationaux ou aux étalons internationaux.
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NORME INTERNATIONALE ISO 8769:2020(F)
Mesurage de la radioactivité — Radionucléides émetteurs
alpha, bêta et photoniques — Spécifications des étalons
de référence pour l'étalonnage des contrôleurs de
contamination de surface
1 Domaine d’application
Le présent document spécifie les caractéristiques d’étalons de référence de contamination de surface
radioactive, traçables par rapport à des étalons nationaux de mesurage, permettant l’étalonnage des
contrôleurs de contamination de surface. Le présent document se rapporte aux émetteurs alpha, aux
émetteurs bêta et aux émetteurs de photons dont l’énergie photonique maximale est inférieure ou égale
à 1,5 MeV.
Il ne décrit pas les modes opératoires qu’implique l’utilisation de ces étalons de référence pour
l’étalonnage des contrôleurs de contamination de surface. Ces modes opératoires sont spécifiés dans
[6] [7]
l’IEC 60325 , l’IEC 62363 ainsi que dans d’autres documents.
NOTE Étant donné que certains des étalons photoniques proposés sont équipés de filtres, ces étalons sont
destinés à être considérés comme des étalons de référence de photons d’une gamme d’énergie particulière, et
241
non comme des étalons de référence d’un radionucléide particulier. Par exemple, un étalon de référence de Am
muni du filtre recommandé n’émet pas, de la surface, les particules alpha ou les photons X de basse énergie, L,
associés à la désintégration radioactive du radionucléide. Il est conçu pour être un étalon de référence émettant
des photons ayant une énergie moyenne d’environ 60 keV.
Le présent document spécifie également des rayonnements de référence préférés pour l’étalonnage des
contrôleurs de contamination de surface. Ces rayonnements de référence sont réalisés sous la forme
d’étalons de référence de grande surface convenablement spécifiés et caractérisés, sans exception, en
termes de taux d’émission surfaciques et activité traçables par rapport à des étalons nationaux.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu’ils constituent, pour tout ou partie de leur
contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique.
Pour les références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y compris les
éventuels amendements).
ISO 12749-2, Énergie nucléaire, technologies nucléaires et protection radiologique — Vocabulaire — Partie
2: Protection radiologique
IEC 60050-395, Vocabulaire électrotechnique international — Partie 395: Instrumentation nucléaire:
Phénomènes physiques, notions fondamentales, instruments, systèmes, équipements et détecteurs
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions de l’ISO 12749-2, l’IEC 60050-395 ainsi
que les suivants, s’appliquent.
L’ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l’adresse https:// www .iso .org/ obp;
— IEC Electropedia: disponible à l’adresse https:// www .electropedia .org/ .
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3.1
taux d’émission surfacique
nombre de particules ou de photons d’une catégorie donnée qui dépassent
une énergie donnée émergeant de la face de l’étalon de référence ou de sa fenêtre, par seconde, dans un
environnement exempt de masse
3.2
face
projection verticale de la surface active nominale sur la face frontale de
l’étalon de référence
Note 1 à l'article: Voir la Figure 1.
Légende
1 filtre
2 support
3 face
4 surface active nominale
Figure 1 — Dessin de la section transversale d’un étalon de référence avec son filtre
3.3
épaisseur de couche à saturation
épaisseur du milieu qui est égale au
parcours maximal du rayonnement particulaire spécifié
3.4
rendement d’un instrument
rapport entre la lecture corrigée de l’instrument (coups par seconde après soustraction du bruit de
fond) et le taux d’émission surfacique de l’étalon de référence (particules émises par seconde), dans des
conditions géométriques spécifiées par rapport à un étalon de référence
Note 1 à l'article: Le rendement d’un instrument dépend de l’énergie du rayonnement émis par l’étalon de
référence, de la surface de l’étalon et de la surface de la fenêtre d’entrée du détecteur.
3.5
auto-absorption
absorption d’un rayonnement qui se produit dans la matière même de
l’étalon de référence
3.6
incertitude
sauf indication contraire, incertitude-type (k = 1)
[8]
Note 1 à l'article: Les incertitudes sont traitées conformément au Guide 98-3 de l’ISO/IEC pour l’expression de
l’incertitude de mesure.
3.7
uniformité
indication du manque de variation de cette
propriété sur la surface
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4 Traçabilité des étalons de référence
Le plan suivant est proposé pour garantir que les étalons de travail utilisés dans le domaine de
l’étalonnage de routine des contrôleurs de contamination de surface se rapportent bien à des étalons
nationaux de mesurage, par le biais d’une chaîne de traçabilité clairement définie et faisant appel à des
étalons de référence et à des dispositifs de transfert de référence.
Les étalons de référence doivent être répartis en deux catégories:
— Catégorie 1: étalons de référence qui ont été étalonnés directement en termes d’activité et de taux
d’émission surfacique par un institut national ou international de métrologie;
— Catégorie 2: étalons de référence qui ont été étalonnés, en termes de taux d’émission surfacique,
à l’aide d’un dispositif de transfert de référence dont le rendement par étalonnage a été mesuré
avec un étalon de référence de Catégorie 1 comprenant le même radionucléide et de conception
d’ensemble identique utilisant la même géométrie, dans un laboratoire agréé conformément à
[16]
l’ISO/IEC 17025 pour de tels mesurages.
Les instituts nationaux de métrologie doivent, à leur discrétion, mettre à disposition les moyens leur
permettant de certifier des étalons de référence de Catégorie 1 d’un domaine spécifié de radionucléides.
[9]
Pour les pays signataires de l’Accord de Reconnaissance Mutuelle (ARM) , un certificat d’étalonnage
établi par un autre institut participant d’un deuxième pays est reconnu valable dans le premier pays
pour les grandeurs, les domaines et les incertitudes de mesure spécifiés à l’Annexe C de la Référence [9].
L’activité et le taux d’émission surfacique des étalons de référence de Catégorie 1 doivent être mesurés,
par exemple, soit à l’aide d’un compteur proportionnel à circulation de gaz sans fenêtre, soit à l’aide
d’un dispositif ayant été étalonné en employant des étalons mesurés par une méthode absolue. Les
modes opératoires d’étalonnage pour la détermination de l’activité sont abordés, par exemple, dans les
Références [10], [11], [12] et [13].
Les organismes qui doivent procéder à des essais de type et étalonner des instruments destinés à la
surveillance de la contamination de surface radioactive doivent avoir accès à des étalons de référence
appropriés de Catégorie 1 ou 2. Le rôle des étalons de travail est de vérifier l’étalonnage des contrôleurs
de contamination de surface sur place. Il ne faut pas les confondre avec les étalons de contrôle qui sont
seulement conçus pour vérifier si un contrôleur est en état de fonctionnement.
Les organismes qui doivent fournir des étalons de travail pour la confirmation régulière de l’étalonnage
de leurs instruments de surveillance de la contamination de surface doivent avoir accès à un dispositif
de transfert de référence permettant l’étalonnage de tels étalons en termes de taux d’émission
surfacique par rapport à un étalon de référence de Catégorie 1 ou 2. Si l’étalon de travail est utilisé
dans un gabarit ou dans une position géométrique particulière, le dispositif de transfert de référence
sur lequel est mesuré le taux d’émission doit avoir été étalonné à partir d’un étalon de référence, dans
des conditions opératoires et géométriques identiques. Par ailleurs, l’étalon de travail doit pouvoir être
retiré du gabarit de façon à pouvoir être mesuré selon la pratique courante. Lorsque seuls quelques
contrôleurs de surface nécessitent un étalonnage ou lorsqu’une grande exactitude est requise, il est
admis d’utiliser des étalons de référence de Catégorie 1 ou 2 comme étalons de travail. Dans ces cas,
la fréquence de réétalonnage doit être la même que celle des étalons de travail. Les réglementations
nationales peuvent exiger des étalonnages plus fréquents.
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5 Spécification des étalons de référence
5.1 Généralités
Les étalons de référence peuvent être répartis en deux groupes:
a) les étalons comprenant un support conducteur d’électricité sur lequel un radionucléide donné a été
déposé de manière permanente ou incorporé d’un seul côté. L’épaisseur du matériau support doit
être suffisante pour empêcher l’émission du rayonnement particulaire à travers le support par le
dos de l’étalon;
ou
b) les étalons comprenant une couche de matière à l’intérieur de laquelle le radionucléide est
uniformément réparti et dont l’épaisseur ne doit pas dépasser l’épaisseur de la couche à saturation
associée au rayonnement particulaire. Pour les besoins du présent document, l’activité de l’étalon
de référence doit être consignée comme étant l’activité contenue dans une couche de surface
d’épaisseur égale à l’épaisseur de couche à saturation.
Les étalons émettant des photons doivent comporter des filtres conformément au Tableau 1.
Pour mesurer directement le taux d’émission surfacique, un seuil correspondant à une énergie minimale
doit être fixé. Pour le comptage bêta, ce seuil doit être fixé de manière à correspondre à une énergie
55
photonique de 590 eV (0,1 fois l’énergie du rayonnement X du Mn suivant la désintégration de Fe).
K
Pour le comptage alpha, le seuil doit être fixé juste au-dessus du bruit électronique du système. Pour le
comptage des photons, le seuil doit être fixé de manière à comprendre le pic de photons et la totalité du
fond Compton.
Avec des émetteurs alpha et des émetteurs bêta de basse énergie, l’auto-absorption peut être loin
d’être négligeable. Cela conduit à une dégradation du spectre d’émission et peut affecter les mesurages
effectués à l’aide de dispositifs de transfert à fenêtre.
Les étalons de référence doivent être adaptés à l’usage prévu et il incombe au fabricant de déterminer et
de consigner les impuretés radioactives au niveau nécessaire pour garantir que l’utilisation de l’étalon
n’est pas compromise par les émissions d’une impureté. Au minimum, toutes les impuretés radioactives
ayant une activité au moins égale à 1 % de l’activité du radionucléide principal doivent être déterminées
et consignées dans le rapport.
Pour les étalons de référence pouvant contenir des impuretés radioactives, les utilisateurs doivent tenir
compte du fait que l’activité relative des impuretés varie dans le temps et peut avoir un effet significatif
sur le taux d’émission de l’étalon.
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Tableau 1 — Caractéristiques et filtres additionnels des étalons de référence émetteurs
photoniques
Énergie photonique
moyenne approxima-
Période Matériau du
a Radionucléide Épaisseur du filtre
tive
b
en jours filtre
en keV
55 3
5,9 Fe 1,00 × 10 aucun
0,05 mm
238 4
16 Pu 3,20 × 10 zirconium
−2
32,5 mg·cm
0,3 mm
129 9
32 I 5,88 × 10 aluminium
−2
81 mg·cm
0,25 mm
acier inoxy-
241 5
60 Am 1,58 × 10
dable −2
200 mg·cm
0,25 mm
acier inoxy-
57
124 Co 272
dable −2
200 mg·cm
1 mm
acier inoxy-
137 4
660 Cs 1,10 × 10
dable −2
800 mg·cm
0,3 mm
60 3
1 250 Co 1,93 × 10 aluminium
−2
81 mg·cm
NOTE 1  Il s’agit ici d’étalons de photons appartenant à une gamme d’énergie particulière et non d’étalons d’un radionucléide
particulier.
60
NOTE 2  Dans la plupart des cas, Co émet deux photons coïncidents avec une corrélation angulaire entre eux. Des
précautions particulières doivent être prises lors du transfert de l’étalonnage à d’autres énergies ou nucléides.
a
L’énergie photonique moyenne approximative est égale à (∑n × E )/∑n où n est le nombre de photons émis par l’étalon
i i i i
possédant une énergie E .
i
b
Pour le présent document, l’acier inoxydable est celui qui a la composition chimique suivante: 72 % Fe, 18 % Cr, 10 % Ni.
5.2 Étalons de référence de Catégorie 1
5.2.1 Exigences générales
Pour se conformer aux exigences spécifiées dans le présent document, les étalons de référence
de Catégorie 1 doivent être des étalons plans composés d’un support en matériau conducteur
d’électricité sur lequel la matière radioactive est déposée ou incorporée sur une face afin de réduire
au minimum l’auto-absorption de l’étalon et de maintenir la conductivité électrique de toute la surface
4 2
active. La surface active doit être au moins égale à 10 mm . Les dimensions recommandées sont de
100 mm × 100 mm, 100 mm × 150 mm et 150 mm × 200 mm.
Un étalon de référence de Catégorie 1 est censé être aussi proche que possible d’un étalon «mince» idéal
[6]
(voir l’IEC 60325 ) par rapport à l’activité elle-même. Il est toutefois reconnu qu’avec des émetteurs
alpha et des émetteurs bêta de basse énergie, l’auto-absorption peut être loin d’être négligeable.
Le maintien de la conductivité électrique est nécessaire au bon fonctionnement des compteurs
proportionnels sans fenêtre. Il convient que l’épaisseur du matériau support permette de réduire au
minimum la contribution du rayonnement rétrodiffusé, aussi bien particulaire que photonique. Le
matériau support recommandé est l’aluminium d’une épaisseur de 3 mm (cette épaisseur est suffisante
pour supprimer l’émission de particules bêta à travers le support par le dos de l’étalon de référence, à
106 106
l’exception des étalons Ru/ Rh pour lesquels il sera nécessaire d’augmenter l’épaisseur à 4,6 mm).
L’épaisseur du matériau support ne doit pas s’écarter de plus ± 10 % de la valeur indiquée dans le
certificat. Il convient que le matériau support soit d’une surface supérieure à la surface active de sorte
que le phénomène de rétrodiffusion soit uniforme sur la totalité de la surface active. Il est recommandé
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de choisir la surface de matériau support de sorte que sa surface totale dépasse d’au moins 10 mm la
périphérie de la surface active de l’étalon de référence.
Un étalon émetteur photonique doit inclure la filtration spécifiée dans le Tableau 1. Il convient
normalement que le filtre fasse partie intégrante de l’étalon de référence et qu’il ne puisse pas être
démonté. Son rôle est décrit dans l’Annexe A. Il convient de choisir la surface du filtre
...

FINAL
INTERNATIONAL ISO/FDIS
DRAFT
STANDARD 8769
ISO/TC 85/SC 2
Measurement of radioactivity —
Secretariat: AFNOR
Alpha-, beta- and photon emitting
Voting begins on:
2020­03­23 radionuclides — Reference
measurement standard specifications
Voting terminates on:
2020­05­18
for the calibration of surface
contamination monitors
Mesurage de la radioactivité — Radionucléides émetteurs alpha,
beta et de photons — Spécifications des étalons de référence pour
l'étalonnage des contrôleurs de contamination de surface
RECIPIENTS OF THIS DRAFT ARE INVITED TO
SUBMIT, WITH THEIR COMMENTS, NOTIFICATION
OF ANY RELEVANT PATENT RIGHTS OF WHICH
THEY ARE AWARE AND TO PROVIDE SUPPOR TING
DOCUMENTATION.
IN ADDITION TO THEIR EVALUATION AS
Reference number
BEING ACCEPTABLE FOR INDUSTRIAL, TECHNO­
ISO/FDIS 8769:2020(E)
LOGICAL, COMMERCIAL AND USER PURPOSES,
DRAFT INTERNATIONAL STANDARDS MAY ON
OCCASION HAVE TO BE CONSIDERED IN THE
LIGHT OF THEIR POTENTIAL TO BECOME STAN­
DARDS TO WHICH REFERENCE MAY BE MADE IN
©
NATIONAL REGULATIONS. ISO 2020

---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO/FDIS 8769:2020(E)

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ISO/FDIS 8769:2020(E)

Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Traceability of reference measurement standards . 2
5 Specification of reference measurement standards. 3
5.1 General . 3
5.2 Class 1 reference measurement standards . 4
5.2.1 General requirements . 4
5.2.2 Activity and surface emission rate . 5
5.2.3 Uniformity . 6
5.2.4 Radionuclides . 6
5.3 Class 2 reference measurement standards . 8
5.3.1 General requirements . 8
5.3.2 Activity and surface emission rate . 8
5.3.3 Uniformity . 8
5.3.4 Radionuclides . 8
5.4 Working measurement standard . 9
5.4.1 General requirements . 9
5.4.2 Activity and surface emission rate . 9
5.4.3 Uniformity . 9
5.4.4 Radionuclides . 9
6 Transfer measurement devices. 9
6.1 Transfer measurement device for alpha­radiation and beta­radiation . 9
6.2 Transfer measurement device for photon­radiation.10
6.3 Calibration .10
Annex A (informative) Particular considerations for reference measurement standards
emitting electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less than
1,5 MeV .11
Bibliography .13
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ISO/FDIS 8769:2020(E)

Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non­governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/ directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/ patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation on the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity
assessment, as well as information about ISO's adherence to the WTO principles in the Technical
Barriers to Trade (TBT) see the following URL: Foreword - Supplementary information.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 85, Nuclear energy, Subcommittee SC 2,
Radiological protection.
This fourth edition cancels and replaces the third edition (ISO 8769:2016), which has been technically
revised. The changes compared to the previous edition are as follows:
— In order to maintain consistency with terms described in the International Vocabulary of Metrology
[16]
or ISO/IEC 17025 , “reference measurement standard”, “working measurement standard” and
“transfer measurement device” were adopted respectively instead of a “reference source”, “working
source” and “reference transfer instrument”.
— 5.1 b): “a surface layer of thickness equal to the saturation layer thickness” was modified to “a
surface layer of thickness equal to or less than the saturation layer thickness”.
— 5.2.3 and 5.3.3: The statement of “minus its relative standard uncertainty” was removed.
— 5.4.3: Requirement for the re-measurement of uniformity was added as follows; “In case that
significant change not due to half-life is found on the re-calibration of surface emission rate, re-
measurement of uniformity is required.”
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/ members .html.
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ISO/FDIS 8769:2020(E)

Introduction
Radioactive contamination of surfaces can result from spilling, splashing, or leakage from unsealed
sources, or breakage or loss of integrity of sealed sources. It can lead to the spread of contamination,
loss of quality control and can give rise to the following health hazards:
a) external exposure to parts of the body in proximity to the contaminated surface;
b) internal exposure through incorporation of radioactive material emanating from the surface.
The need for effective monitoring of surface contamination has long been recognized, see Reference [1].
Surface contamination is quantified in terms of activity per unit area, the quantity which is normally
used to specify “derived limits”, i.e. maximum limits of surface contamination. These limits are
based on radiological protection considerations and have been derived from the dose equivalent or
intake limits recommended by the International Commission on Radiological Protection (ICRP), see
References [2] and [3]. Derived limits are incorporated into numerous national and international
regulatory documents which relate specifically to surface contamination monitoring.
The requirement for this document originated from the need for standard calibration sources in
International Standards dealing with the calibration of surface contamination monitors.
While regulatory documents refer to surface contamination in terms of activity per unit area, the
response of monitoring instruments is related directly to the radiation emitted from the surface rather
than to the activity contained upon or within the surface. Due to variations in the absorptive and
scattering properties of real surfaces, it cannot be assumed, in general, that there is a simple, known
relationship between surface emission rate and activity. Thus, there emerges a clear need for calibration
sources that are specified primarily in terms of surface emission rate, as well as activity. The manner in
[4]
which these sources are used and the associated calibration protocols vary from country to country .
Calibration of an instrument in terms of activity for the types of surfaces that are usually encountered
in monitoring situations depends on the following considerations:
— mixture and ratios of radionuclides being monitored;
— their types and abundances of emissions;
— nature of the surface;
— depths and distribution profiles within the surface;
— spectral attenuation dependence of the instrument entrance window;
— distance between the instrument entrance window and the surface.
The derivation of appropriate calibration factors in terms of activity is therefore a highly complex
process which is outside the scope of this document. Appropriate guidance on this process is addressed
[5]
in ISO 7503 (all parts) . However, some estimate of the activity of the calibration source is required for
general radiological safety purposes such as handling, leak testing, shielding, packaging, and transport.
This is a generic issue for all radioactive sources regardless of their intended use and is not therefore
addressed specifically in this document.
Traceability of calibration sources to International Standards or national standards is established by a
system of reference transfer instruments.
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FINAL DRAFT INTERNATIONAL STANDARD ISO/FDIS 8769:2020(E)
Measurement of radioactivity — Alpha-, beta- and photon
emitting radionuclides — Reference measurement
standard specifications for the calibration of surface
contamination monitors
1 Scope
This document specifies the characteristics of reference measurement standard of radioactive
surface contamination, traceable to national measurement standards, for the calibration of surface
contamination monitors. This document relates to alpha­emitters, beta­emitters, and photon emitters
of maximum photon energy not greater than 1,5 MeV.
It does not describe the procedures involved in the use of these reference measurement standards
[6]
for the calibration of surface contamination monitors. Such procedures are specified in IEC 60325 ,
[7]
IEC 62363 , and other documents.
NOTE Since some of the proposed photon standards include filters, the photon standards are to be regarded
as reference measurement standards of photons of a particular energy range and not as reference measurement
241
standards of a particular radionuclide. For example, a Am source with the recommended filtration does not
emit from the surface the alpha particles or characteristic low-energy L X-ray photons associated with the decay
of the nuclide. It is designed to be a reference measurement standard that emits photons with an average energy
of approximately 60 keV.
This document also specifies preferred reference radiations for the calibration of surface contamination
monitors. These reference radiations are realized in the form of adequately characterized large area
sources specified, without exception, in terms of surface emission rates which are traceable to national
standards.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 12749­2, Nuclear energy, nuclear technologies, and radiological protection — Vocabulary — Part 2:
Radiological protection
IEC 60050­395, International Electrotechnical Vocabulary — Part 395: Nuclear instrumentation: Physical
phenomena, basic concepts, instruments, systems, equipment and detectors
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 12749-2, IEC 60050-395, and
the following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: available at https:// www .electropedia .org/
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ISO/FDIS 8769:2020(E)

3.1
surface emission rate
number of particles or photons of a given type above a given energy emerging from the
face of the source or its window per second in a mass­free environment
3.2
face
vertical projection of the nominal active area onto the front surface of the source
Note 1 to entry: See Figure 1.
Key
1 filter
2 backing
3 face
4 nominal active area
Figure 1 — Cross-sectional drawing of a reference measurement standard with its filter
3.3
saturation layer thickness
thickness of the medium equal to the
maximum range of the specified particulate radiation
3.4
instrument efficiency
ratio between the instrument net reading (counts per second after background subtraction) and the
surface emission rate of the reference measurement standard (particles emitted per second) in a
specified geometry relative to a standard
Note 1 to entry: The instrument efficiency depends on the energy of the radiation emitted by the standard, the
area of the standard, and the area of the detector entrance window.
3.5
self-absorption
absorption of radiation which occurs within the material of the source itself
3.6
uncertainty
standard uncertainty (k = 1) unless otherwise stated
[8]
Note 1 to entry: The treatment of uncertainties is in accordance with the ISO/IEC Guide 98-3 to the expression
of uncertainty in measurement.
3.7
uniformity
indication of the lack of variation of that property over
the surface
4 Traceability of reference measurement standards
The following scheme is proposed to ensure that working standards used in the field for the routine
calibration of surface contamination monitors shall be related to national measurement standards
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ISO/FDIS 8769:2020(E)

through a clearly defined traceability chain using reference measurement standards and reference
transfer measurement devices.
Reference measurement standards shall be of the following two types:
— Class 1: reference measurement standards that have been calibrated directly in terms of activity
and surface emission rate at a national or international metrology institute.
— Class 2: reference measurement standards that have been calibrated in terms of surface emission
rate on a reference transfer instrument, the efficiency of which has been measured by calibration
with a Class 1 reference measurement standard of the same radionuclide and of the same general
[16]
construction using the same geometry, at a laboratory that operates according to ISO/IEC 17025
for such measurements.
National metrology institutes shall, at their discretion, provide the means whereby Class 1 reference
measurement standards of a specified range of radionuclides may be certified by them. For those
[9]
countries which are signatories to the Mutual Recognition Arrangement (MRA) , a certificate of
calibration from another participating institute in a second country is recognized as valid in the
first country for the quantities, ranges, and measurement uncertainties specified in Appendix C of
Reference [9].
The activity and surface emission rate of Class 1 reference measurement standards shall be measured,
using, for example, a windowless gas-flow proportional detector, or by using an instrument that has
been calibrated using standards that have been measured absolutely. Calibration procedures for
activity determination are discussed for example, in References [10], [11], [12] and [13].
Organizations with a requirement to type test and to calibrate instruments to be used for monitoring
radioactive surface contamination need to have access to suitable Class 1 or Class 2 reference
measurement standards. The purpose of a working measurement standard is to check the calibration
of surface contamination monitors in the field; they are not to be confused with check sources, which
are only intended to verify that a monitor is operating.
Organizations with a requirement to provide working measurement standards for the routine
confirmation of the calibration of their surface contamination monitoring instruments require access
to a reference transfer measurement device with which to calibrate such sources in terms of surface
emission rate against a Class 1 or Class 2 reference measurement standard. Where the working
measurement standard is used either in a jig or under a particular geometry, the reference transfer
measurement device on which its emission rate is measured shall have been calibrated using a
reference measurement standard under identical conditions and geometry. Alternatively, the working
measurement standard shall be removable from the jig so that it can be measured in the usual way.
Where only a few monitors need calibration or a high degree of accuracy is required, Class 1 or Class 2
reference measurement standards may be used as working measurement standards. In such cases, the
frequency of re-calibration shall be that for working measurement standards. National regulations may
require more frequent calibrations.
5 Specification of reference measurement standards
5.1 General
Reference measurement standards are of the following kinds:
a) Sources comprising an electrically conducting backing material with a given radionuclide
permanently deposited upon or incorporated into one side only; the thickness of the backing material
shall be sufficient to prevent emission of the particulate radiation through the back of the source.
or
b) Sources comprising a layer of material within which the radionuclide is uniformly distributed
and the thickness of which shall not exceed the thickness of the saturation layer of the particulate
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radiation. For the purposes of this document, the activity of the source shall be taken as the activity
contained within a surface layer of thickness equal to or less than the saturation layer thickness.
Photon-emitting sources shall incorporate filters in accordance with Table 1.
To measure the surface emission rate directly, a threshold corresponding to a minimum energy shall to
be set. For beta counting, it shall be set to correspond to a photon energy of 590 eV (0,1 times the energy
55
of the X -radiation of Mn following the decay of Fe). For alpha counting, the threshold shall be set just
K
above the electronic noise of the system. For photon counting, the threshold shall be set to comprise the
photon peak and the whole Compton continuum.
With alpha-emitters and low-energy beta-emitters, self-absorption can be far from negligible. This
leads to a degradation of the emission spectrum and might affect measurements with windowed
transfer measurement devices.
[21]
Reference measurement standards shall be fit for purpose and it shall be the responsibility of the
manufacturer to determine and report the radioactive impurities to the extent necessary to ensure
that the use of the standard is not compromised by emissions from any impurity. As a minimum, all
radioactive impurities with an activity of at least 1 % of the activity of the principal radionuclide shall
be determined and reported.
For those standards which might contain radioactive impurities, users of the reference measurement
standard shall take into account that the relative activity of the impurity changes with time and could
produce a significant effect on the emission rate of the source.
Table 1 — Characteristics and additional filtration of photon-emitting standards
Approximate
mean photon
Half-life Filter
a Radionuclide Filter thickness
energy b
in days material
in keV
55 3
5,9 Fe 1,00 × 10 none
0,05 mm
238 4
16 Pu 3,20 × 10 zirconium
−2
32,5 mg·cm
0,3 mm
129 9
32 I 5,88 × 10 aluminium
−2
81 mg·cm
0,25 mm
241 5
60 Am 1,58 × 10 stainless steel
−2
200 mg·cm
0,25 mm
57
124 Co 272 stainless steel
−2
200 mg·cm
1 mm
137 4
660 Cs 1,10 × 10 stainless steel
−2
800 mg·cm
0,3 mm
60 3
1 250 Co 1,93 × 10 aluminium
−2
81 mg·cm
NOTE 1 These are standards of photons of a particular energy range and not sources of a particular radionuclide.
60
NOTE 2 In most cases, Co emits two coincident photons with an angular correlation between them. Great care shall be
taken when transferring the calibration to other energies or nuclides.
a
The approximate mean photon energy is equal to (∑n × E )/∑n where n is the number of photons emitted from the
i i i i
standard with energy E .
i
b
For this document, stainless steel is that which has the composition 72 % Fe, 18 % Cr, 10 % Ni.
5.2 Class 1 reference measurement standards
5.2.1 General requirements
In order to comply with the requirements specified in this document, Class 1 reference measurement
standards shall be plane sources comprising an electrically conducting backing material with
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radioactive material deposited upon or incorporated into one side in such a manner as to minimize
source self-absorption and to maintain electrical conductivity across the whole of the face of the source.
4 2
The active area shall be at least 10 mm ; recommended sizes are 100 mm × 100 mm, 100 mm × 150 mm,
and 150 mm × 200 mm.
A Class 1 reference measurement standard is intended to approximate as closely as practicably possible
[6]
an ideal “thin” source (see IEC 60325 ) with respect to the activity itself. However, it is acknowledged
that with alpha-emitters and low-energy beta-emitters, self-absorption can be far from negligible.
Maintenance of electrical conductivity is necessary for the correct operation of windowless proportional
counters. The thickness of the backing material should be such as to minimize the contribution from
backscattered radiation, both particle and photon. The recommended backing material is aluminium
of 3 mm thickness (this thickness is sufficient to eliminate beta-particle emission through the back
106 106
of the source, with the exception of Ru/ Rh sources where the thickness would need to be
increased to 4,6 mm). The thickness of the backing material shall be within 10 % of the value detailed
in the certificate. The backing material should extend beyond the active area to such an extent that the
backscattering effect is uniform over the whole of the active area. It is recommended that the backing
material should extend at least 10 mm beyond the active area of the source.
A photon-emitting standard shall include the filtration specified in Table 1. The filter should normally
be an integral part of the source, it should not be removable. Their purpose is described in Annex A. The
area of the filter should be such that it extends for at least 10 mm beyond the active area of the source.
The thickness of the filter shall be within 10 % of the specified value in Table 1.
Standards shall be accompanied by a calibration certificate giving the following information:
a) radionuclide;
NOTE Half-life values and other current nuclear data values are provided by Reference [14].
b) source identification number;
c) surface emission rate and its uncertainty;
d) activity and its uncertainty;
e) impurities of an activity of at least 1 % of the principal radionuclide activity;
f) reference date [shall be identical for c), d) and e)];
g) active area: its location and size;
h) nature, thickness, density, and dimensions of substrate;
i) nature, thickness, density, and dimensions of filter (if any);
j) uniformity and uncertainty (table of relative emission rates of all individual portions relating
position and emission rate);
k) class of standard.
Manufacturers may decide to give further information of help to the user, such as the depth of the active
layer. Markings on the source itself shall indicate the radionuclide and the source identification number.
5.2.2 Activity and surface emission rate
The activity of a Class 1 reference measurement standard of the preferred size should be such as to give
−1 −1
a surface emission rate from about 2 000 s to 10 000 s in order to optimize between background,
statistical uncertainty, and dead-time error. The activity shall be stated with a relative uncertainty not
exceeding 10 %. The surface emission rate shall be measured by the national metrology institute with a
relative uncertainty not exceeding the following:
a) 3 % for alpha standards;
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ISO/FDIS 8769:2020(E)

b) 3 % for beta standards with an end-point energy greater than 15
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