ISO 8769:2020
(Main)Measurement of radioactivity — Alpha-, beta- and photon emitting radionuclides — Reference measurement standard specifications for the calibration of surface contamination monitors
Measurement of radioactivity — Alpha-, beta- and photon emitting radionuclides — Reference measurement standard specifications for the calibration of surface contamination monitors
This document specifies the characteristics of reference measurement standards of radioactive surface contamination, traceable to national measurement standards, for the calibration of surface contamination monitors. This document relates to alpha-emitters, beta-emitters, and photon emitters of maximum photon energy not greater than 1,5 MeV. It does not describe the procedures involved in the use of these reference measurement standards for the calibration of surface contamination monitors. Such procedures are specified in IEC 60325[6], IEC 62363[7], and other documents. NOTE Since some of the proposed photon standards include filters, the photon standards are to be regarded as reference measurement standards of photons of a particular energy range and not as reference measurement standards of a particular radionuclide. For example, a 241Am source with the recommended filtration does not emit from the surface the alpha particles or characteristic low-energy L X-ray photons associated with the decay of the nuclide. It is designed to be a reference measurement standard that emits photons with an average energy of approximately 60 keV. This document also specifies preferred reference radiations for the calibration of surface contamination monitors. These reference radiations are realized in the form of adequately characterized large area sources specified, without exception, in terms of surface emission rate and activity which are traceable to national standards.
Mesurage de la radioactivité — Radionucléides émetteurs alpha, bêta et photoniques — Spécifications des étalons de référence pour l'étalonnage des contrôleurs de contamination de surface
Le présent document spécifie les caractéristiques d'étalons de référence de contamination de surface radioactive, traçables par rapport à des étalons nationaux de mesurage, permettant l'étalonnage des contrôleurs de contamination de surface. Le présent document se rapporte aux émetteurs alpha, aux émetteurs bêta et aux émetteurs de photons dont l'énergie photonique maximale est inférieure ou égale à 1,5 MeV. Il ne décrit pas les modes opératoires qu'implique l'utilisation de ces étalons de référence pour l'étalonnage des contrôleurs de contamination de surface. Ces modes opératoires sont spécifiés dans l'IEC 60325[6], l'IEC 62363[7] ainsi que dans d'autres documents. NOTE Étant donné que certains des étalons photoniques proposés sont équipés de filtres, ces étalons sont destinés à être considérés comme des étalons de référence de photons d'une gamme d'énergie particulière, et non comme des étalons de référence d'un radionucléide particulier. Par exemple, un étalon de référence de 241Am muni du filtre recommandé n'émet pas, de la surface, les particules alpha ou les photons X de basse énergie, L, associés à la désintégration radioactive du radionucléide. Il est conçu pour être un étalon de référence émettant des photons ayant une énergie moyenne d'environ 60 keV. Le présent document spécifie également des rayonnements de référence préférés pour l'étalonnage des contrôleurs de contamination de surface. Ces rayonnements de référence sont réalisés sous la forme d'étalons de référence de grande surface convenablement spécifiés et caractérisés, sans exception, en termes de taux d'émission surfaciques et activité traçables par rapport à des étalons nationaux.
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INTERNATIONAL ISO
STANDARD 8769
Fourth edition
2020-06
Measurement of radioactivity —
Alpha-, beta- and photon emitting
radionuclides — Reference
measurement standard specifications
for the calibration of surface
contamination monitors
Mesurage de la radioactivité — Radionucléides émetteurs alpha,
bêta et photoniques — Spécifications des étalons de référence pour
l'étalonnage des contrôleurs de contamination de surface
Reference number
©
ISO 2020
© ISO 2020
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication may
be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting
on the internet or an intranet, without prior written permission. Permission can be requested from either ISO at the address
below or ISO’s member body in the country of the requester.
ISO copyright office
CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Geneva
Phone: +41 22 749 01 11
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii © ISO 2020 – All rights reserved
Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Traceability of reference measurement standards . 2
5 Specification of reference measurement standards. 3
5.1 General . 3
5.2 Class 1 reference measurement standards . 4
5.2.1 General requirements . 4
5.2.2 Activity and surface emission rate . 5
5.2.3 Uniformity . 6
5.2.4 Radionuclides . 6
5.3 Class 2 reference measurement standards . 8
5.3.1 General requirements . 8
5.3.2 Activity and surface emission rate . 8
5.3.3 Uniformity . 8
5.3.4 Radionuclides . 9
5.4 Working measurement standard . 9
5.4.1 General requirements . 9
5.4.2 Activity and surface emission rate . 9
5.4.3 Uniformity . 9
5.4.4 Radionuclides . 9
6 Transfer measurement devices.10
6.1 Transfer measurement device for alpha-radiation and beta-radiation .10
6.2 Transfer measurement device for photon-radiation.10
6.3 Calibration .10
Annex A (informative) Particular considerations for reference measurement standards
emitting electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less than
1,5 MeV .11
Bibliography .13
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/ directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/ patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation on the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity
assessment, as well as information about ISO's adherence to the WTO principles in the Technical
Barriers to Trade (TBT) see the following URL: Foreword - Supplementary information.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 85, Nuclear energy, Subcommittee SC 2,
Radiological protection.
This fourth edition cancels and replaces the third edition (ISO 8769:2016), which has been technically
revised. The changes compared to the previous edition are as follows:
— In order to maintain consistency with terms described in the International Vocabulary of Metrology
[16]
or ISO/IEC 17025 , “reference measurement standard”, “working measurement standard” and
“transfer measurement device” were adopted respectively instead of a “reference source”, “working
source” and “reference transfer instrument”.
— 5.1 b): “a surface layer of thickness equal to the saturation layer thickness” was modified to “a
surface layer of thickness equal to or less than the saturation layer thickness”.
— 5.2.3 and 5.3.3: The statement of “minus its relative standard uncertainty” was removed.
— 5.4.3: Requirement for the re-measurement of uniformity was added as follows; “In case that
significant change not due to half-life is found on the re-calibration of surface emission rate, re-
measurement of uniformity is required.”
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/ members .html.
iv © ISO 2020 – All rights reserved
Introduction
Radioactive contamination of surfaces can result from spilling, splashing, or leakage from unsealed
sources, or breakage or loss of integrity of sealed sources. It can lead to the spread of contamination,
loss of quality control and can give rise to the following health hazards:
a) external exposure to parts of the body in proximity to the contaminated surface;
b) internal exposure through incorporation of radioactive material emanating from the surface.
The need for effective monitoring of surface contamination has long been recognized, see Reference [1].
Surface contamination is quantified in terms of activity per unit area, the quantity which is normally
used to specify “derived limits”, i.e. maximum limits of surface contamination. These limits are
based on radiological protection considerations and have been derived from the dose equivalent or
intake limits recommended by the International Commission on Radiological Protection (ICRP), see
References [2] and [3]. Derived limits are incorporated into numerous national and international
regulatory documents which relate specifically to surface contamination monitoring.
The requirement for this document originated from the need for calibration measurement standards in
International Standards dealing with the calibration of surface contamination monitors.
While regulatory documents refer to surface contamination in terms of activity per unit area, the
response of monitoring instruments is related directly to the radiation emitted from the surface
rather than to the activity contained upon or within the surface. Due to variations in the absorptive
and scattering properties of real surfaces, it cannot be assumed, in general, that there is a simple,
known relationship between surface emission rate and activity. Thus, there emerges a clear need for
calibration measurement standards that are specified primarily in terms of surface emission rate, as
well as activity. The manner in which these standards are used and the associated calibration protocols
[4]
vary from country to country .
Calibration of an instrument in terms of activity for the types of surfaces that are usually encountered
in monitoring situations depends on the following considerations:
— mixture and ratios of radionuclides being monitored;
— their types and abundances of emissions;
— nature of the surface;
— depths and distribution profiles within the surface;
— spectral attenuation dependence of the instrument entrance window;
— distance between the instrument entrance window and the surface.
The derivation of appropriate calibration factors in terms of activity is therefore a highly complex
process which is outside the scope of this document. Appropriate guidance on this process is addressed
[5]
in ISO 7503 (all parts) . However, some estimate of the activity of the calibration measurement
standard is required for general radiological safety purposes such as handling, leak testing, shielding,
packaging, and transport. This is a generic issue for all radioactive sources regardless of their intended
use and is not therefore addressed specifically in this document.
Traceability of calibration measurement standards to International Standards or national standards is
established by a system of reference transfer instruments.
INTERNATIONAL STANDARD ISO 8769:2020(E)
Measurement of radioactivity — Alpha-, beta- and photon
emitting radionuclides — Reference measurement
standard specifications for the calibration of surface
contamination monitors
1 Scope
This document specifies the characteristics of reference measurement standards of radioactive
surface contamination, traceable to national measurement standards, for the calibration of surface
contamination monitors. This document relates to alpha-emitters, beta-emitters, and photon emitters
of maximum photon energy not greater than 1,5 MeV.
It does not describe the procedures involved in the use of these reference measurement standards
[6]
for the calibration of surface contamination monitors. Such procedures are specified in IEC 60325 ,
[7]
IEC 62363 , and other documents.
NOTE Since some of the proposed photon standards include filters, the photon standards are to be regarded
as reference measurement standards of photons of a particular energy range and not as reference measurement
standards of a particular radionuclide. For example, a Am source with the recommended filtration does not
emit from the surface the alpha particles or characteristic low-energy L X-ray photons as
...
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 8769
Fourth edition
2020-06
Measurement of radioactivity —
Alpha-, beta- and photon emitting
radionuclides — Reference
measurement standard specifications
for the calibration of surface
contamination monitors
Mesurage de la radioactivité — Radionucléides émetteurs alpha,
bêta et photoniques — Spécifications des étalons de référence pour
l'étalonnage des contrôleurs de contamination de surface
Reference number
©
ISO 2020
© ISO 2020
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication may
be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting
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CH-1214 Vernier, Geneva
Phone: +41 22 749 01 11
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii © ISO 2020 – All rights reserved
Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Traceability of reference measurement standards . 2
5 Specification of reference measurement standards. 3
5.1 General . 3
5.2 Class 1 reference measurement standards . 4
5.2.1 General requirements . 4
5.2.2 Activity and surface emission rate . 5
5.2.3 Uniformity . 6
5.2.4 Radionuclides . 6
5.3 Class 2 reference measurement standards . 8
5.3.1 General requirements . 8
5.3.2 Activity and surface emission rate . 8
5.3.3 Uniformity . 8
5.3.4 Radionuclides . 9
5.4 Working measurement standard . 9
5.4.1 General requirements . 9
5.4.2 Activity and surface emission rate . 9
5.4.3 Uniformity . 9
5.4.4 Radionuclides . 9
6 Transfer measurement devices.10
6.1 Transfer measurement device for alpha-radiation and beta-radiation .10
6.2 Transfer measurement device for photon-radiation.10
6.3 Calibration .10
Annex A (informative) Particular considerations for reference measurement standards
emitting electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less than
1,5 MeV .11
Bibliography .13
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/ directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/ patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation on the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity
assessment, as well as information about ISO's adherence to the WTO principles in the Technical
Barriers to Trade (TBT) see the following URL: Foreword - Supplementary information.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 85, Nuclear energy, Subcommittee SC 2,
Radiological protection.
This fourth edition cancels and replaces the third edition (ISO 8769:2016), which has been technically
revised. The changes compared to the previous edition are as follows:
— In order to maintain consistency with terms described in the International Vocabulary of Metrology
[16]
or ISO/IEC 17025 , “reference measurement standard”, “working measurement standard” and
“transfer measurement device” were adopted respectively instead of a “reference source”, “working
source” and “reference transfer instrument”.
— 5.1 b): “a surface layer of thickness equal to the saturation layer thickness” was modified to “a
surface layer of thickness equal to or less than the saturation layer thickness”.
— 5.2.3 and 5.3.3: The statement of “minus its relative standard uncertainty” was removed.
— 5.4.3: Requirement for the re-measurement of uniformity was added as follows; “In case that
significant change not due to half-life is found on the re-calibration of surface emission rate, re-
measurement of uniformity is required.”
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/ members .html.
iv © ISO 2020 – All rights reserved
Introduction
Radioactive contamination of surfaces can result from spilling, splashing, or leakage from unsealed
sources, or breakage or loss of integrity of sealed sources. It can lead to the spread of contamination,
loss of quality control and can give rise to the following health hazards:
a) external exposure to parts of the body in proximity to the contaminated surface;
b) internal exposure through incorporation of radioactive material emanating from the surface.
The need for effective monitoring of surface contamination has long been recognized, see Reference [1].
Surface contamination is quantified in terms of activity per unit area, the quantity which is normally
used to specify “derived limits”, i.e. maximum limits of surface contamination. These limits are
based on radiological protection considerations and have been derived from the dose equivalent or
intake limits recommended by the International Commission on Radiological Protection (ICRP), see
References [2] and [3]. Derived limits are incorporated into numerous national and international
regulatory documents which relate specifically to surface contamination monitoring.
The requirement for this document originated from the need for calibration measurement standards in
International Standards dealing with the calibration of surface contamination monitors.
While regulatory documents refer to surface contamination in terms of activity per unit area, the
response of monitoring instruments is related directly to the radiation emitted from the surface
rather than to the activity contained upon or within the surface. Due to variations in the absorptive
and scattering properties of real surfaces, it cannot be assumed, in general, that there is a simple,
known relationship between surface emission rate and activity. Thus, there emerges a clear need for
calibration measurement standards that are specified primarily in terms of surface emission rate, as
well as activity. The manner in which these standards are used and the associated calibration protocols
[4]
vary from country to country .
Calibration of an instrument in terms of activity for the types of surfaces that are usually encountered
in monitoring situations depends on the following considerations:
— mixture and ratios of radionuclides being monitored;
— their types and abundances of emissions;
— nature of the surface;
— depths and distribution profiles within the surface;
— spectral attenuation dependence of the instrument entrance window;
— distance between the instrument entrance window and the surface.
The derivation of appropriate calibration factors in terms of activity is therefore a highly complex
process which is outside the scope of this document. Appropriate guidance on this process is addressed
[5]
in ISO 7503 (all parts) . However, some estimate of the activity of the calibration measurement
standard is required for general radiological safety purposes such as handling, leak testing, shielding,
packaging, and transport. This is a generic issue for all radioactive sources regardless of their intended
use and is not therefore addressed specifically in this document.
Traceability of calibration measurement standards to International Standards or national standards is
established by a system of reference transfer instruments.
INTERNATIONAL STANDARD ISO 8769:2020(E)
Measurement of radioactivity — Alpha-, beta- and photon
emitting radionuclides — Reference measurement
standard specifications for the calibration of surface
contamination monitors
1 Scope
This document specifies the characteristics of reference measurement standards of radioactive
surface contamination, traceable to national measurement standards, for the calibration of surface
contamination monitors. This document relates to alpha-emitters, beta-emitters, and photon emitters
of maximum photon energy not greater than 1,5 MeV.
It does not describe the procedures involved in the use of these reference measurement standards
[6]
for the calibration of surface contamination monitors. Such procedures are specified in IEC 60325 ,
[7]
IEC 62363 , and other documents.
NOTE Since some of the proposed photon standards include filters, the photon standards are to be regarded
as reference measurement standards of photons of a particular energy range and not as reference measurement
standards of a particular radionuclide. For example, a Am source with the recommended filtration does not
emit from the surface the alpha particles or characteristic low-energy L X-ray photons as
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 8769
Quatrième édition
2020-06
Mesurage de la radioactivité —
Radionucléides émetteurs alpha,
bêta et photoniques — Spécifications
des étalons de référence pour
l'étalonnage des contrôleurs de
contamination de surface
Measurement of radioactivity — Alpha-, beta- and photon emitting
radionuclides — Reference measurement standard specifications for
the calibration of surface contamination monitors
Numéro de référence
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ISO 2020
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Publié en Suisse
ii © ISO 2020 – Tous droits réservés
Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Traçabilité des étalons de référence. 3
5 Spécification des étalons de référence . 4
5.1 Généralités . 4
5.2 Étalons de référence de Catégorie 1 . 5
5.2.1 Exigences générales . 5
5.2.2 Activité et taux d’émission surfacique . 6
5.2.3 Uniformité. 7
5.2.4 Radionucléides . 7
5.3 Étalons de référence de Catégorie 2 . 9
5.3.1 Exigences générales . 9
5.3.2 Activité et taux d’émission surfacique . 9
5.3.3 Uniformité. 9
5.3.4 Radionucléides . 9
5.4 Étalon de travail .10
5.4.1 Exigences générales .10
5.4.2 Activité et taux d’émission surfacique .10
5.4.3 Uniformité.10
5.4.4 Radionucléides .10
6 Dispositifs de transfert .10
6.1 Dispositif de transfert pour le rayonnement alpha et le rayonnement bêta .10
6.2 Dispositif de transfert pour le rayonnement photonique .11
6.3 Étalonnage .11
Annexe A (informative) Considérations particulières relatives aux étalons de référence
émetteurs d’électrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et de photons d’énergie
inférieure à 1,5 MeV .12
Bibliographie .14
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/ directives).
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l’élaboration du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l’ISO (voir www .iso .org/ brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la signification des termes et expressions spécifiques de l’ISO liés à l’évaluation
de la conformité, ou pour toute information au sujet de l’adhésion de l’ISO aux principes de l’OMC
concernant les obstacles techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: www .iso .org/ iso/ fr/
foreword .html.
Le comité chargé de l’élaboration du présent document est l’ISO/TC 85, Énergie nucléaire, technologies
nucléaires, et radioprotection, sous-comité SC 2, Radioprotection.
Cette quatrième édition annule et remplace la troisième édition (ISO 8769:2016), qui a fait l’objet d’une
révision technique. Les modifications par rapport à l’édition précédente sont les suivantes:
— adoption des termes «étalon de référence», «étalon de travail» et «dispositif de transfert»
respectivement en lieu et place des termes «source de référence», «source de travail» et «instrument
de transfert» afin d’assurer la cohérence avec les termes décrits dans le Vocabulaire international
[16]
de métrologie ou l’ISO/IEC 17025 ;
— 5.1 b): modification de «une couche de surface d’épaisseur égale à l’épaisseur de couche à saturation»
en «une couche de surface d’épaisseur inférieure ou égale à l’épaisseur de couche à saturation»;
— 5.2.3 et 5.3.3: suppression de l’énoncé «moins son incertitude-type relative»;
— 5.4.3: ajout de l’exigence d’un nouveau mesurage de l’uniformité comme suit: «Si un changement
significatif non imputable à la période est constaté lors du réétalonnage du taux d’émission
surfacique, un nouveau mesurage de l’uniformité est nécessaire».
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/ fr/ members .html.
iv © ISO 2020 – Tous droits réservés
Introduction
La contamination radioactive des surfaces peut résulter d’écoulements, d’éclaboussures ou de fuites de
sources non scellées, ou encore de la rupture ou perte d’intégrité de sources scellées. Elle peut donner
lieu à la propagation de la contamination, à la perte de contrôle de la qualité et peut présenter les risques
suivants pour la santé:
a) exposition externe de parties du corps à proximité de la surface contaminée;
b) exposition interne par l’incorporation de matières radioactives émanant de la surface.
La nécessité d’une surveillance efficace de la contamination de surface est reconnue depuis longtemps;
voir la Référence [1]. La contamination de surface est quantifiée en termes d’activité surfacique.
Cette grandeur est normalement utilisée pour spécifier des «limites dérivées», c’est-à-dire les limites
maximales de contamination de surface. Ces limites sont fondées sur des considérations liées à la
protection radiologique et ont été déduites des valeurs limites d’équivalent de dose ou d’incorporation,
telles que les recommande la Commission internationale de protection radiologique (CIPR); voir les
Références [2] et [3]. Les limites dérivées figurent dans de nombreux textes réglementaires nationaux
et internationaux qui se rapportent spécifiquement à la surveillance de la contamination des surfaces.
Le présent document est né du besoin d’étalons de référence dans les Normes internationales traitant
de l’étalonnage des contrôleurs de contamination de surface.
Alors que les textes réglementaires se réfèrent à la contamination de surface en termes d’activité
surfacique, la réponse des instruments de surveillance est directement liée au rayonnement émis
par la surface, plutôt qu’à l’activité superficielle ou interne de la surface. Compte tenu des variations
des propriétés d’absorption et de diffusion des surfaces réelles, il ne peut être supposé qu’il existe
généralement une relation simple et connue entre le taux d’émission surfacique et l’activité. Le besoin
d’étalons de référence spécifiés principalement en termes de taux d’émission surfacique, mais aussi
d’activité, est donc patent. La manière dont ces étalons sont utilisés et les protocoles d’étalonnage
[4]
associés varient d’un pays à l’autre .
L’étalonnage d’un instrument en termes d’activité pour les types de surfaces habituellement rencontrées
dans les situations de surveillance dépend des considérations suivantes:
— le mélange et les rapports des radionucléides surveillés;
— leurs types et les abondances des émissions;
— la nature de la surface;
— les profondeurs et les profils de distribution au sein de la surface;
— la dépendance de la fenêtre d’entrée de l’instrument vis-à-vis de l’atténuation spectrale;
— la distance entre la fenêtre d’entrée de l’instrument et la surface.
La déduction des facteurs d’étalonnage appropriés en termes d’activité est donc un processus très
complexe qui ne relève pas du domaine d’application du présent document. L’ISO 7503 (toutes les
[5]
parties) fournit des recommandations appropriées relatives à ce processus. Toutefois, une certaine
estimation de l’activité de l’étalon de référence est nécessaire à des fins de sécurité radiologique en
général, telles que la manipulation, les essais d’étanchéité, le blindage, le conditionnement et le
transport. Il s’agit d’une question générique qui concerne toutes les sources radioactives quel que soit
leur usage prévu et qui n’est pas donc pas traitée de manière spécifique dans le présent document.
Un système de dispositif de transfert de référence permet la traçabilité des étalons de référence aux
étalons nationaux ou aux étalons internationaux.
NORME INTERNATIONALE ISO 8769:2020(F)
Mesurage de la radioactivité — Radionucléides émetteurs
alpha, bêta et photoniques — Spécifications des étalons
de référence pour l'étalonnage des contrôleurs de
contamination de surface
1 Domaine d’application
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 8769
Quatrième édition
2020-06
Mesurage de la radioactivité —
Radionucléides émetteurs alpha,
bêta et photoniques — Spécifications
des étalons de référence pour
l'étalonnage des contrôleurs de
contamination de surface
Measurement of radioactivity — Alpha-, beta- and photon emitting
radionuclides — Reference measurement standard specifications for
the calibration of surface contamination monitors
Numéro de référence
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ISO 2020
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Publié en Suisse
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Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Traçabilité des étalons de référence. 3
5 Spécification des étalons de référence . 4
5.1 Généralités . 4
5.2 Étalons de référence de Catégorie 1 . 5
5.2.1 Exigences générales . 5
5.2.2 Activité et taux d’émission surfacique . 6
5.2.3 Uniformité. 7
5.2.4 Radionucléides . 7
5.3 Étalons de référence de Catégorie 2 . 9
5.3.1 Exigences générales . 9
5.3.2 Activité et taux d’émission surfacique . 9
5.3.3 Uniformité. 9
5.3.4 Radionucléides . 9
5.4 Étalon de travail .10
5.4.1 Exigences générales .10
5.4.2 Activité et taux d’émission surfacique .10
5.4.3 Uniformité.10
5.4.4 Radionucléides .10
6 Dispositifs de transfert .10
6.1 Dispositif de transfert pour le rayonnement alpha et le rayonnement bêta .10
6.2 Dispositif de transfert pour le rayonnement photonique .11
6.3 Étalonnage .11
Annexe A (informative) Considérations particulières relatives aux étalons de référence
émetteurs d’électrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et de photons d’énergie
inférieure à 1,5 MeV .12
Bibliographie .14
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/ directives).
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l’élaboration du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l’ISO (voir www .iso .org/ brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la signification des termes et expressions spécifiques de l’ISO liés à l’évaluation
de la conformité, ou pour toute information au sujet de l’adhésion de l’ISO aux principes de l’OMC
concernant les obstacles techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: www .iso .org/ iso/ fr/
foreword .html.
Le comité chargé de l’élaboration du présent document est l’ISO/TC 85, Énergie nucléaire, technologies
nucléaires, et radioprotection, sous-comité SC 2, Radioprotection.
Cette quatrième édition annule et remplace la troisième édition (ISO 8769:2016), qui a fait l’objet d’une
révision technique. Les modifications par rapport à l’édition précédente sont les suivantes:
— adoption des termes «étalon de référence», «étalon de travail» et «dispositif de transfert»
respectivement en lieu et place des termes «source de référence», «source de travail» et «instrument
de transfert» afin d’assurer la cohérence avec les termes décrits dans le Vocabulaire international
[16]
de métrologie ou l’ISO/IEC 17025 ;
— 5.1 b): modification de «une couche de surface d’épaisseur égale à l’épaisseur de couche à saturation»
en «une couche de surface d’épaisseur inférieure ou égale à l’épaisseur de couche à saturation»;
— 5.2.3 et 5.3.3: suppression de l’énoncé «moins son incertitude-type relative»;
— 5.4.3: ajout de l’exigence d’un nouveau mesurage de l’uniformité comme suit: «Si un changement
significatif non imputable à la période est constaté lors du réétalonnage du taux d’émission
surfacique, un nouveau mesurage de l’uniformité est nécessaire».
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/ fr/ members .html.
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Introduction
La contamination radioactive des surfaces peut résulter d’écoulements, d’éclaboussures ou de fuites de
sources non scellées, ou encore de la rupture ou perte d’intégrité de sources scellées. Elle peut donner
lieu à la propagation de la contamination, à la perte de contrôle de la qualité et peut présenter les risques
suivants pour la santé:
a) exposition externe de parties du corps à proximité de la surface contaminée;
b) exposition interne par l’incorporation de matières radioactives émanant de la surface.
La nécessité d’une surveillance efficace de la contamination de surface est reconnue depuis longtemps;
voir la Référence [1]. La contamination de surface est quantifiée en termes d’activité surfacique.
Cette grandeur est normalement utilisée pour spécifier des «limites dérivées», c’est-à-dire les limites
maximales de contamination de surface. Ces limites sont fondées sur des considérations liées à la
protection radiologique et ont été déduites des valeurs limites d’équivalent de dose ou d’incorporation,
telles que les recommande la Commission internationale de protection radiologique (CIPR); voir les
Références [2] et [3]. Les limites dérivées figurent dans de nombreux textes réglementaires nationaux
et internationaux qui se rapportent spécifiquement à la surveillance de la contamination des surfaces.
Le présent document est né du besoin d’étalons de référence dans les Normes internationales traitant
de l’étalonnage des contrôleurs de contamination de surface.
Alors que les textes réglementaires se réfèrent à la contamination de surface en termes d’activité
surfacique, la réponse des instruments de surveillance est directement liée au rayonnement émis
par la surface, plutôt qu’à l’activité superficielle ou interne de la surface. Compte tenu des variations
des propriétés d’absorption et de diffusion des surfaces réelles, il ne peut être supposé qu’il existe
généralement une relation simple et connue entre le taux d’émission surfacique et l’activité. Le besoin
d’étalons de référence spécifiés principalement en termes de taux d’émission surfacique, mais aussi
d’activité, est donc patent. La manière dont ces étalons sont utilisés et les protocoles d’étalonnage
[4]
associés varient d’un pays à l’autre .
L’étalonnage d’un instrument en termes d’activité pour les types de surfaces habituellement rencontrées
dans les situations de surveillance dépend des considérations suivantes:
— le mélange et les rapports des radionucléides surveillés;
— leurs types et les abondances des émissions;
— la nature de la surface;
— les profondeurs et les profils de distribution au sein de la surface;
— la dépendance de la fenêtre d’entrée de l’instrument vis-à-vis de l’atténuation spectrale;
— la distance entre la fenêtre d’entrée de l’instrument et la surface.
La déduction des facteurs d’étalonnage appropriés en termes d’activité est donc un processus très
complexe qui ne relève pas du domaine d’application du présent document. L’ISO 7503 (toutes les
[5]
parties) fournit des recommandations appropriées relatives à ce processus. Toutefois, une certaine
estimation de l’activité de l’étalon de référence est nécessaire à des fins de sécurité radiologique en
général, telles que la manipulation, les essais d’étanchéité, le blindage, le conditionnement et le
transport. Il s’agit d’une question générique qui concerne toutes les sources radioactives quel que soit
leur usage prévu et qui n’est pas donc pas traitée de manière spécifique dans le présent document.
Un système de dispositif de transfert de référence permet la traçabilité des étalons de référence aux
étalons nationaux ou aux étalons internationaux.
NORME INTERNATIONALE ISO 8769:2020(F)
Mesurage de la radioactivité — Radionucléides émetteurs
alpha, bêta et photoniques — Spécifications des étalons
de référence pour l'étalonnage des contrôleurs de
contamination de surface
1 Domaine d’application
...
Questions, Comments and Discussion
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