IEC 61967-1:2002

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61967-1
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-03
Circuits intégrés –
Mesure des émissions électro-
magnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 1:
Conditions générales et définitions
Integrated circuits –
Measurement of electromagnetic
emissions, 150 kHz to 1 GHz
Part 1:
General conditions and definitions

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61967-1:2002
Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and

base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1

base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
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• IEC Just Published
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Tél: +41 22 919 02 11
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Fax: +41 22 919 03 00
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INTERNATIONALE IEC
61967-1
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-03
Circuits intégrés –
Mesure des émissions électro-
magnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 1:
Conditions générales et définitions
Integrated circuits –
Measurement of electromagnetic
emissions, 150 kHz to 1 GHz
Part 1:
General conditions and definitions

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– 2 – 61967-1  CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .6

1 Domaine d'application.10

2 Références normatives .10

3 Définitions .12

4 Conditions d'essai.18

4.1 Généralités.18
4.2 Conditions ambiantes .20
4.2.1 Température ambiante.20
4.2.2 Intensité ambiante de champ de radiofréquences .20
4.2.3 Autres conditions ambiantes .20
4.2.4 Stabilité du CI sur la durée.20
5 Appareillage d'essai.20
5.1 Généralités.20
5.2 Blindage .20
5.3 Appareil de mesure des radiofréquences .20
5.3.1 Récepteur de mesure.22
5.3.2 Analyseur de spectres.22
5.3.3 Autre largeur de bande de résolution pour perturbations à bande étroite .22
5.3.4 Type de perturbations, type de détecteur et vitesse de balayage.22
5.3.5 Largeur de bande vidéo .24
5.3.6 Vérification de l'étalonnage de l'appareil de mesure RF .24
5.4 Gamme de fréquences .24
5.5 Préamplificateur ou atténuateur .24
5.6 Gain du système.24
5.7 Autres composants .24
6 Montage d'essai.24
6.1 Généralités.24
6.2 Carte à circuit imprimé pour essai.26
6.3 Chargement de la broche du CI .26
6.4 Prescriptions relatives à l'alimentation – Alimentation de la carte pour essai.26
6.5 Considérations spécifiques relatives au CI .28
6.5.1 Tension d'alimentation du CI .28
6.5.2 Découplage du CI .28
6.5.3 Activité du CI .28
6.5.4 Lignes directrices concernant le fonctionnement du CI .28
7 Procédure d'essai .28
7.1 Vérification des conditions ambiantes .28
7.2 Vérification opérationnelle.28
7.3 Procédures spécifiques.30

61967-1  IEC:2002 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7

1 Scope.11

2 Normative references .11

3 Definitions .13

4 Test conditions .19

4.1 General .19
4.2 Ambient conditions .21
4.2.1 Ambient temperature .21
4.2.2 Ambient RF field strength .21
4.2.3 Other ambient conditions.21
4.2.4 IC stability over time.21
5 Test equipment.21
5.1 General .21
5.2 Shielding .21
5.3 RF measuring instrument .21
5.3.1 Measuring receiver .23
5.3.2 Spectrum analyser.23
5.3.3 Other RBW for narrowband disturbances .23
5.3.4 Disturbance type, detector type and sweep speed .23
5.3.5 Video bandwidth .25
5.3.6 Verification of calibration for the RF measuring instrument .25
5.4 Frequency range .25
5.5 Pre-amplifier or attenuator.25
5.6 System gain .25
5.7 Other components .25
6 Test set-up .25
6.1 General .25
6.2 Test circuit board .27
6.3 IC pin loading .27
6.4 Power supply requirements – Test board power supply .27

6.5 IC specific considerations.29
6.5.1 IC supply voltage.29
6.5.2 IC decoupling .29
6.5.3 Activity of IC .29
6.5.4 Guidelines regarding IC operation .29
7 Test procedure .29
7.1 Ambient check.29
7.2 Operational check .
...