IEC 60512-28-100:2013

IEC 60512-28-100 ®
Edition 1.0 2013-02
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Connectors for electronic equipment – Tests and measurements –
Part 28-100: Signal integrity tests up to 1 000 MHz on IEC 60603-7 and
IEC 61076-3 series connectors – Tests 28a to 28g

Connecteurs pour équipements électroniques – Essais et mesures –
Partie 28-100: Essais d'intégrité des signaux jusqu'à 1 000 MHz sur les
connecteurs des séries CEI 60603-7 et CEI 61076-3 – Essais 28a à 28g

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IEC 61076-3 series connectors – Tests 28a to 28g

Connecteurs pour équipements électroniques – Essais et mesures –

Partie 28-100: Essais d'intégrité des signaux jusqu'à 1 000 MHz sur les

connecteurs des séries CEI 60603-7 et CEI 61076-3 – Essais 28a à 28g

INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
CODE PRIX V
ICS 31.220.10 ISBN 978-2-83220-639-3

– 2 – 60512-28-100 © IEC:2013
CONTENTS
FOREWORD . 5

1 Scope . 7

2 Normative references . 7

3 Terms, definitions and acronyms . 8

3.1 Terms and definitions . 8

3.2 Acronyms . 8

4 Overall test arrangement . 9

4.1 Test instrumentation . 9
4.2 Measurement precautions . 9
4.3 Mixed mode S-parameter nomenclature . 10
4.4 Coaxial cables and interconnect for network analysers . 11
4.5 Requirements for switching matrices . 11
4.6 Test fixture requirements . 12
4.7 Requirements for termination performance at calibration plane. 13
4.8 Reference loads for calibration . 13
4.9 Calibration . 14
4.10 Termination loads for termination of conductor pairs . 14
4.10.1 General . 14
4.10.2 Verification of termination loads . 15
4.11 Termination of screens . 15
4.12 Test specimen and reference planes . 15
4.12.1 General . 15
4.12.2 Interconnections between device under test (DUT) and the
calibration plane . 16
4.13 Overall test setup requirements . 18
5 Connector measurement up to 1 000 MHz . 18
5.1 General . 18
5.2 Insertion loss, Test 28a . 19
5.2.1 Object. 19
5.2.2 Connecting hardware insertion loss . 19
5.2.3 Test method . 19
5.2.4 Test set-up . 19

5.2.5 Procedure . 19
5.2.6 Test report . 20
5.2.7 Accuracy . 20
5.3 Return loss, Test 28b . 20
5.3.1 Object. 20
5.3.2 Connecting hardware return loss . 20
5.3.3 Test method . 20
5.3.4 Test set-up . 21
5.3.5 Procedure . 21
5.3.6 Test report . 21
5.3.7 Accuracy . 21
5.4 Near-end crosstalk (NEXT), Test 28c . 21
5.4.1 Object. 21
5.4.2 Connecting hardware NEXT . 21

60512-28-100 © IEC:2013 – 3 –
5.4.3 Test method . 21

5.4.4 Test set-up . 22

5.4.5 Procedure . 22

5.4.6 Test report . 23

5.4.7 Accuracy . 23

5.5 Far-end crosstalk (FEXT), Test 28d . 23

5.5.1 Object. 23

5.5.2 Connecting hardware FEXT . 23

5.5.3 Test method . 23

5.5.4 Test set-up . 23

5.5.5 Procedure . 24
5.5.6 Test report . 24
5.5.7 Accuracy . 24
5.6 Transfer impedance (Z ), Test 28e . 25
T
5.7 Transverse conversion loss (TCL), Test 28f. 25
5.7.1 Object. 25
5.7.2 Connecting hardware TCL . 25
5.7.3 Test method . 25
5.7.4 Test set-up . 25
5.7.5 Procedure . 25
5.7.6 Test report . 26
5.7.7 Accuracy . 26
5.8 Transverse conversion transfer loss (TCTL), Test 28g . 26
5.8.1 Object. 26
5.8.2 Connecting hardware TCTL . 26
5.8.3 Test method . 27
5.8.4 Test set-up . 27
5.8.5 Procedure .
...