IEC 61967-4:2002/COR1:2017
(Corrigendum)Corrigendum 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 Ω/150 Ω direct coupling method
Corrigendum 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 Ω/150 Ω direct coupling method
Corrigendum 1 - Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4 : Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω
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IEC 2017
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
IEC 61967-4 IEC 61967-4
Edition 1.0 2002-04 Édition 1.0 2002-04
Integrated circuits – Measurement of Circuits intégrés – Mesure des émissions
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz
Part 4: Partie 4:
Measurement of conducted emissions – Mesure des émissions conduites –
1 Ω/150 Ω direct coupling method Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω
CO RRI G E NDUM 1
Corrections to the French version appear after the English text.
Les corrections à la version française sont données après le texte anglais.
7.1 General test configuration
Replace the existing Figure 5 by the following new Figure 5:
Impedance
C3
matching Z = 50 Ω
L
network
Z = 150 Ω
L
IC
I/O
Q
R3
V
supply C4
Gnd
120 Ω V
RF
6,8 nF
...
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