IEC 62132-1:2006
(Main)Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions
This part of IEC 62132 provides general information and definitions on measurement of conducted and radiated electromagnetic immunity of integrated circuits (ICs) to conducted and radiated disturbances. It also provides a description of measurement conditions, test equipment and set-up, as well as the test procedures and content of the test reports. A test method comparison table is included in Annex A to assist in selecting the appropriate measurement method(s). This standard describes general conditions required to obtain a quantitative measure of immunity of ICs in a uniform testing environment. Critical parameters that are expected to influence the test results are described. Deviations from this standard are noted explicitly in the individual test report. The measurement results can be used for comparison or other purposes. Measurement of the injected voltages and currents, together with the responses of the ICs tested at controlled conditions, yields information about the potential immunity of the IC to conducted and radiated RF disturbances in a given application.
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
Cette partie de la CEI 62132 fournit des informations générales et des définitions sur la mesure de l'immunité électromagnétique conduite et rayonnée des circuits intégrés (CI) aux perturbations conduites et rayonnées. Elle fournit également une description des conditions de mesure, de l'équipement d'essai et du montage d'essai ainsi que les méthodes d'essai et le contenu des rapports d'essai. Un tableau de comparaison des méthodes d'essai est compris dans l'Annexe A pour aider à la sélection de la ou des méthodes de mesure appropriées. L'objet de cette norme est de décrire les conditions générales prescrites pour obtenir une mesure quantitative d'immunité des CI dans un environnement d'essais uniforme. Les paramètres critiques qui sont prévus pour influencer les résultats d'essai sont décrits. Les divergences par rapport à la présente norme sont notées explicitement dans le rapport d'essai individuel. Les résultats de mesure peuvent être utilisés en vue de comparaisons ou à d'autres fins. La mesure des tensions et courants injectés, ainsi que les réponses des CI essayés aux conditions contrôlées, fournissent des informations sur l'immunité potentielle du CI aux perturbations RF conduites et rayonnées dans une application donnée.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
62132-1
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-01
Circuits intégrés –
Mesure de l'immunité électromagnétique,
150 kHz à 1 GHz –
Partie 1:
Conditions générales et définitions
Integrated circuits –
Measurement of electromagnetic
immunity, 150 kHz to 1 GHz –
Part 1:
General conditions and definitions
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 62132-1:2006
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
62132-1
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-01
Circuits intégrés –
Mesure de l'immunité électromagnétique,
150 kHz à 1 GHz –
Partie 1:
Conditions générales et définitions
Integrated circuits –
Measurement of electromagnetic
immunity, 150 kHz to 1 GHz –
Part 1:
General conditions and definitions
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– 2 – 62132-1 CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.6
1 Domaine d'application .10
2 Références normatives.10
3 Termes et définitions .12
4 Conditions d'essai .18
4.1 Généralités.18
4.2 Conditions ambiantes .18
4.3 Générateur d’essai .20
4.4 Gamme de fréquences .20
5 Equipement d’essai .20
5.1 Généralités.20
5.2 Blindage.20
5.3 Générateur d’essai et amplificateur de puissance.20
5.4 Autres composants.20
6 Montage d’essai .22
6.1 Généralités.22
6.2 Carte de circuit d’essai.22
6.3 Plan de sélection des broches .22
6.4 Charge/terminaison de broche de CI .22
6.5 Exigences pour l’alimentation électrique.24
6.6 Considérations spécifiques des CI.24
6.7 Stabilité de CI sur la durée .26
7 Procédure d’essai.26
7.1 Vérification de la surveillance.26
7.2 Exposition humaine .26
7.3 Vérification de système .26
7.4 Procédures spécifiques .28
8 Rapport d'essai .30
8.1 Généralités.30
8.2 Limites ou niveaux d’immunité.32
8.3 Classes de performance.32
8.4 Interprétation des résultats.32
Annexe A (informative) Tableau de comparaison des méthodes d’essai.34
Annexe B (informative) Spécification de la carte d’essai générale.36
Bibliographie.44
62132-1 IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
1 Scope and object.11
2 Normative references .11
3 Terms and definitions .13
4 Test conditions .19
4.1 General .19
4.2 Ambient conditions .19
4.3 Test generator.21
4.4 Frequency range .21
5 Test equipment.21
5.1 General .21
5.2 Shielding .21
5.3 Test generator and power amplifier .21
5.4 Other components .21
6 Test set-up .23
6.1 General .23
6.2 Test circuit board .23
6.3 Pin selection scheme .23
6.4 IC pin loading/termination.23
6.5 Power supply requirements .25
6.6 IC specific considerations.25
6.7 IC stability over time.27
7 Test procedure .27
7.1 Monitoring check .27
7.2 Human exposure .27
7.3 System verification .27
7.4 Specific procedures.29
8 Test report.31
8.1 General .31
8.2 Immunity limits or levels .33
8.3 Performance classes .33
8.4 Interpretation of results .33
Annex A (informative) Test method comparison table.35
Annex B (informative) General test board specification .37
Bibliography.45
– 4 – 62132-1 CEI:2006
Figure 1 – Signal RF lorsque le niveau de puissance de crête RF est maintenu.30
Figure B.1 – Exemple de carte d’essai pour l’immunité .
...
Questions, Comments and Discussion
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